[发明专利]一种水溶性荧光碳点在检测重金属银离子含量中的应用有效
申请号: | 201611164540.9 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106706583B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 刘国良;冯大千;宣成磊;王伟 | 申请(专利权)人: | 盐城工学院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 224599 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 银离子 重金属 探针 水溶性荧光 线性关系 波长 检测 银离子溶液 测量步骤 待测样品 探针荧光 荧光探针 波长光 缓冲液 稀释 原液 应用 合成 激发 记录 | ||
本发明公开一种水溶性荧光碳点在检测重金属银离子含量中的应用。该方法包括以下步骤:取2μL合成的碳点原液用BR缓冲液稀释至2mL作为荧光探针,用352nm波长光激发,测定荧光碳点探针在441nm波长处的荧光强度,记为I0;另取荧光碳点探针,分别加入不同浓度的银离子溶液,测量步骤同前一步,记为I441,根据荧光强度的变化值,计算出加入银离子前后荧光碳点探针荧光强度的变化值与银离子浓度的线性关系;将待测样品加入荧光碳点探针中,记录在441nm波长处的荧光强度的变化值,根据上述线性关系,计算出加入银离子的质量或浓度。本发明检测重金属银离子结果准确,方便快捷,具有良好的市场前景。
技术领域
本发明涉及银离子测定领域,具体涉及一种水溶性荧光碳点在检测重金属银离子含量中的应用。
背景技术
重金属离子污染广泛存在于水、空气、土壤、食品,因此在全世界范围内都是一个很严重的问题。银离子及其化合物广泛运用于电气相关行业、摄影摄像行业以及制药行业,而最终有意无意的被释放到生态系统中去。因此,依赖银的相关技术会对环境产生一定程度上的潜在危害。近年来,已经有相关报道指出了银离子对无脊椎动物、浮游植物、海藻良性细菌、两栖动物及鱼类的生物积累以及潜在的毒性。因此,快速灵敏检测银离子在食品安全、水质分析和医疗诊断中具有非常重要的意义。
在目前采用的银离子测定方法中,原子吸收分光光度法具有灵敏、准确、简便的优势。其原理是利用呈气态的原子吸收同类原子辐射出的特征谱线,通常卤化物、硫代硫酸盐对银的测定有干扰,需对试样进行前期消解处理。这在一定程度上限制其广泛应用的前景。因此,开发快速、选择性高的银离子检测新方法具有重要的实际意义。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明的目的在于提供了一种水溶性荧光碳点在检测重金属银离子含量中的应用,本发明方法简单易行,用于检测银离子准确率高,不易受其他离子的干扰。
为解决现有技术问题,本发明采取的技术方案为:
一种水溶性荧光碳点在检测重金属银离子含量中的应用,包括以下步骤:
第一步,取2 μL合成的碳点原液用BR缓冲液稀释至2 mL作为荧光探针,用352 nm波长光激发,测定荧光碳点探针在441 nm波长处的荧光强度,记为I0;
第二步,另取2 μL合成的碳点原液用BR缓冲液稀释至2 mL作为荧光探针,分别向荧光探针中加入不同浓度待测样品银离子后,测定含有不同浓度银离子的荧光碳点在352nm波长光激发下,在441 nm波长处的荧光强度,记为I441,根据加入不同浓度银离子后,荧光强度的变化值,计算出加入银离子前后荧光碳点探针的荧光强度的变化值与银离子浓度的线性关系;
第三步,另取2 μL合成的碳点原液用BR缓冲液稀释至2 mL作为荧光探针,将待测样品加入荧光碳点探针中,测试其加入前后在352 nm波长光的激发下,在441 nm波长处的荧光强度的变化值,根据第二步的线性关系,计算出加入银离子的质量或浓度。
作为改进的是,第一步中取2 μL荧光碳点,并加入半胱氨酸混合,用BR缓冲液稀释至2 mL,得碳点/半胱氨酸荧光探针。
作为改进的是,第一步中荧光碳点的制备方法为:
步骤1,将0.3-1.5 g无水柠檬酸溶于25-75 mL超纯水,超声溶解得柠檬酸溶液;
步骤2,将500-1500 μL的乙二胺注射至柠檬酸溶液的底部,并转入水热反应釜中,再放入烘箱中使之反应得浅黄色溶液;
步骤3,将水热法制备得到的浅黄色溶液离心,取上清液,经过透析膜纯化得荧光碳点。
作为改进的是,步骤2中烘箱的温度为160-240℃,反应2-8小时。
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