[发明专利]基于单能量图像记录确定材料属性值的空间分布

权利要求书

1.一种用于确定检查对象(O)的检查区域(FoV)中材料属性值的空间分布的方法，包括步骤：

使用具有限定的测量能量的单能CT记录并且使用限定的测量投影几何结构捕获从所述检查对象(O)的所述检查区域(FoV)生成的测量投影数据(P_M(k))，

基于所捕获的测量投影数据(P_M(k))重建图像数据(I_M(x,y,z))，

通过根据图像点是否包含有包括第一基本材料(M₁)和第二基本材料(M₂)的两种基本材料(M₁，M₂)中的显著比例的所述第二基本材料(M₂)对所述图像点分类，使用阈值(T₂)来估计所述检查区域(FoV)中所述两种基本材料(M₁，M₂)的空间分布(I_T(x,y,z))，

基于所估计的空间分布(I_T(x,y,z))以及一般依赖性规则(P(d₁,d₂))，确定所述两种基本材料(M₁，M₂)的厚度分布(d₁，d₂)，所述一般依赖性规则(P(d₁,d₂))已经关于所述测量投影数据(P_M(k))对所述两种基本材料(M₁，M₂)的厚度分布(d₁，d₂)的依赖性而被确定，

基于所述两种基本材料(M₁，M₂)的所确定的厚度分布(d₁，d₂)并且基于所述材料属性值的空间分布(I_e(x,y,z),I_z(x,y,z))与所述两种基本材料(M₁，M₂)的厚度分布(d₁，d₂)之间的先前已知的理论关系(P_e^theo(d₁,d₂),P_z^theo(d₁,d₂))，确定所述材料属性值的空间分布(I_e(x,y,z),I_z(x,y,z))，所述材料属性值的空间分布(I_e(x,y,z),I_z(x,y,z))独立于所述测量能量。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述一般依赖性规则(P(d₁,d₂))使用另外的测量或者取决于所述两种基本材料(M₁，M₂)的所述厚度分布(d₁，d₂)的测量信号衰减(P)的仿真来确定。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述一般依赖性规则(P(d₁,d₂))包括给出取决于所述两种基本材料(M₁，M₂)的厚度分布(d₁，d₂)的测量信号衰减的线积分的投影(P)。