[发明专利]一种基于FPGA的γ能谱测量系统在审
| 申请号： | 201611133617.6 | 申请日： | 2016-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN108614288A | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 郑楠;徐立松;李佩玥;隋永新;杨怀江 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 能谱测量 调理电路 处理器 电压脉冲信号 显示装置 上位机 探头 射线 简化电路结构 脉冲波形数据 模拟信号转化 核辐射 数字信号 输出 探测 转化 | ||
1.一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，包括γ射线探头、调理电路、ADC、FPGA、处理器、显示装置和上位机；
所述γ射线探头将探测到的核辐射强度转化为不同幅度的电压脉冲信号，并输入至所述调理电路；
所述调理电路将所述不同幅度的电压脉冲信号调节至所述ADC的输入范围内并输出至所述ADC；
所述ADC将模拟信号转化为数字信号输出到FPGA；
所述FPGA进行数字信号处理将整形后的脉冲波形数据和道址数据发送至处理器；
所述处理器将所述脉冲波形数据和道址数据分别发送到显示装置和上位机。
2.如权利要求1所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述显示装置为LCD。
3.如权利要求1所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述处理器为双核处理器。
4.如权利要求1所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述所述FPGA包括：低通滤波器、零极调整、基线消除、梯形整形、幅度提取、第一RAM和第二RAM；
所述低通滤波器的输入端连接ADC的输出端；
所述低通滤波器的输出端连接零极调整的输入端；
所述零极调整的输出端连接基线消除的输入端；
所述基线消除的输出端连接梯形整形的输入端；
所述梯形整形的输出端同时连接幅度提取的输出端和第二RAM的输入端；
所述幅度提取的输出端连接第一RAM的输入端；
所述第一RAM和第二RAM的输出端连接处理器的输入端。
5.如权利要求4所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述第一RAM和第二RAM均为双口RAM。
6.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述调理电路是相位、增益可调的放大电路。
7.根据权利要求4所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述FPGA通过异步总线与所述处理器进行连接。
8.根据权利要求7所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述处理器可通过所述异步总线对所述FPGA内部寄存器写入配置信息。
9.根据权利要求7所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述配置信息包括：所述低通滤波器的截止频率参数、阶数参数，所述零极调整的脉宽参数，以及所述梯形整形的平顶和平底参数。
10.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的γ能谱测量系统，其特征在于，所述ADC采用芯片AD9650，所述FPGA采用芯片XC5VLX50T，所述处理器采用芯片OMAPL138。
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