[发明专利]热敏电阻耐压测试方法

说明书

本发明涉及热敏电阻领域，具体为一种热敏电阻耐压测试方法。首先，将钢珠放入两个绝缘容器内，耐压测试仪的两个电压输出端电极分别放入两个绝缘容器内固定；然后，将被测产品的引线全部放入一个装有钢珠的绝缘容器内，使引线埋入钢珠内，被测产品的测温头放入另一个装有钢珠的绝缘容器内，使测温头埋入钢珠内；最后，打开耐压测试仪测试开关，进行耐压测试。该方法提高了工作效率，并且避免测量数据不准确的隐患。

技术领域

本发明涉及热敏电阻领域，具体为一种热敏电阻耐压测试方法。

背景技术

热敏电阻器是敏感元件的一类，按照温度系数不同分为正温度系数热敏电阻器(PTC)和负温度系数热敏电阻器(NTC)。热敏电阻器的典型特点是对温度敏感，不同的温度下表现出不同的电阻值。正温度系数热敏电阻器(PTC)在温度越高时电阻值越大，负温度系数热敏电阻器(NTC)在温度越高时电阻值越低，它们同属于半导体器件。在PTC热敏电阻的生产中，需要对PTC热敏电阻的零功率电阻、动作时间、不动作时间、耐压与寿命、耐工频冲击等项目进行测试和实验，过去一向是在不同的设备上进行单一功能测试。

如图1所示，在对热敏电阻产品进行耐压测试时，需要将被测产品1的引线3短接后作为一个电极，测温头外包裹铜箔2作为另一个电极，两个电极分别与耐压测试仪的两个电压输出端电极连接。当产品的介电强度低于设计要求，耐压测试仪发出报警信号，提示产品介电强度不合格。这种测试方法效率低，并且存在铜箔与测温头包裹不紧密，测量数据不准确的隐患。

发明内容

本发明的目的在于提供一种热敏电阻耐压测试方法，解决现有技术中存在的测试方法效率低、铜箔与测温头包裹不紧密以及测量数据不准确等问题。

本发明的技术方案是：

一种热敏电阻耐压测试方法，首先，将钢珠放入两个绝缘容器内，耐压测试仪的两个电压输出端电极分别放入两个绝缘容器内固定；然后，将热敏电阻被测产品的引线全部放入一个装有钢珠的绝缘容器内，使引线埋入钢珠内；将热敏电阻被测产品的测温头放入另一个装有钢珠的绝缘容器内，使测温头埋入钢珠内；最后，打开耐压测试仪测试开关，进行耐压测试。

所述的热敏电阻耐压测试方法，在进行产品耐压测试时，同时对两套以上热敏电阻被测产品进行耐压测试。

所述的耐压测试方法将，钢珠直径为1-10mm。

本发明的优点及有益效果是：

采用本发明在进行产品耐压测试时，可以将多套产品的引线全部放入装有钢珠的容器内，测温头放入另一个装有钢珠的容器内。打开耐压测试仪测试开关，同时对多套产品进行耐压测试，提高了工作效率并且避免测量数据不准确的隐患。

附图说明

图1为改进前的测试方法示意图。图中，1被测产品；2铜箔；3引线。

图2为改进后的测试方法示意图。图中，1被测产品；3引线；4钢珠；5绝缘容器。

具体实施方式

如图2所示，本发明改进后的测试方法如下：

将直径为2mm的钢珠4分别放入两个绝缘容器5内，耐压测试仪的两个电压输出端电极分别放入两个绝缘容器5内固定(不再取出，方便以后使用)。在进行产品耐压测试时，将10套热敏电阻被测产品1的引线3全部放入一个装有钢珠4的绝缘容器5内，热敏电阻被测产品1的测温头放入另一个装有钢珠4的绝缘容器5内。打开耐压测试仪测试开关，即可进行耐压测试。该方法提高了工作效率，并且避免测量数据不准确的隐患。