[发明专利]一种测厚仪在审
申请号: | 201611123542.3 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN108180873A | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 张长凤 | 申请(专利权)人: | 镇江苏佰鑫工程机械有限公司 |
主分类号: | G01B17/02 | 分类号: | G01B17/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测厚仪 防护罩 超声波探头 步进电机 防尘罩 测量 外界环境变化 侧面设置 减少振动 外界环境 校准装置 直线导轨 校准 底座 垫板 减小 时长 保证 安全 | ||
本发明公开了一种测厚仪,所述底座的侧面设置有防护罩,防护罩能保护安全,同时也能隔绝外界环境,减小外界环境变化对测量产生的影响,所述测厚仪还包括超声波探头校准装置,可以对超声波探头进行校准,从而保证测量的精确度,所述步进电机上设置有防尘罩,可以延长步进电机的使用时长,所述C形架和直线导轨之间设置有垫板,可以减少振动带来的影响,该测厚仪具有使用时间长以及精确度高的优点,前景广阔。
技术领域
本发明涉及机械设备领域,特别涉及一种测厚仪。
背景技术
测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。目前测厚仪存在着使用时间不长的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种测厚仪,以解决现有技术中导致的上述多项缺陷。
为实现上述目的,本发明提供以下的技术方案:一种测厚仪,包括底座、C形架、超声波探头、移动结构和工作台,所述底座底侧设置有支架,所述工作台设置在底座上,所述C形架通过移动结构设置在工作台上,所述移动结构包括步进电机、滚珠丝杆和直线导轨,所述步进电机和直线导轨通过滚珠丝杆连接,所述超声波探头设置在C形架的上下两侧。
优选的,所述底座的侧面设置有防护罩。
优选的,所述测厚仪还包括超声波探头校准装置。
优选的,所述超声波探头校准装置为标准量块,所述标准量块设置在底座的一侧。
优选的,所述步进电机上设置有防尘罩。
优选的,所述C形架和直线导轨之间设置有垫板。
采用以上技术方案的有益效果是:本发明结构的一种测厚仪,所述底座的侧面设置有防护罩,防护罩能保护安全,同时也能隔绝外界环境,减小外界环境变化对测量产生的影响,所述测厚仪还包括超声波探头校准装置,可以对超声波探头进行校准,从而保证测量的精确度,所述步进电机上设置有防尘罩,可以延长步进电机的使用时长,所述C形架和直线导轨之间设置有垫板,可以减少振动带来的影响,该测厚仪具有使用时间长以及精确度高的优点,前景广阔。
附图说明
图1是本发明的一种测厚仪的结构示意图;
图2是直线导轨的结构示意图。
其中:1-底座、2-C形架、3-超声波探头、4-工作台、5-支架、6-步进电机、7-滚珠丝杆、8-直线导轨、9-防护罩、10-标准量块、11-防尘罩、12-垫板。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的优选实施方式。
图1出示本发明的具体实施方式:一种测厚仪,包括底座1、C形架2、超声波探头3、移动结构和工作台4,所述底座1底侧设置有支架5,所述工作台4设置在底座1上,所述C形架2通过移动结构设置在工作台4上,所述移动结构包括步进电机6、滚珠丝杆7和直线导轨8,所述步进电机6和直线导轨8通过滚珠丝杆7连接,所述超声波探头3设置在C形架2的上下两侧。
此外,如图2所示,所述底座1的侧面设置有防护罩9,所述测厚仪还包括超声波探头校准装置,所述超声波探头校准装置为标准量块10,所述标准量块10设置在底座1的一侧,所述步进电机6上设置有防尘罩11,所述C形架2和直线导轨8之间设置有垫板12。
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