[发明专利]适用于NGFF插槽的测试电路板有效
申请号: | 201611109443.X | 申请日: | 2016-12-02 |
公开(公告)号: | CN108153624B | 公开(公告)日: | 2021-04-27 |
发明(设计)人: | 张天超 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/267 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 王中 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 ngff 插槽 测试 电路板 | ||
本发明公开一种适用于NGFF插槽的测试电路板,通过具有NGFF接口的测试电路板直接插接于待测试电路板的NGFF插槽上以对NGFF插槽进行各种对应的测试过程,或是通过具有多个NGFF接口分别插接于待测试电路板的NGFF插槽,藉由快速外设组件互连标准交换模块以及测试模块以对NGFF插槽进行各种对应的测试过程,藉此可以达成提供低成本NGFF接口测试且提高测试覆盖率的技术功效。
技术领域
本发明涉及一种测试电路板,尤其是指一种通过快速外设组件互连标准交换模块以及测试模块对NGFF插槽进行各种对应的测试过程的适用于NGFF插槽的测试电路板。
背景技术
NGFF接口是发展以替换串行SCSI(Serial Attached SCSI,SAS)接口,NGFF接口的特征即是采用快速外设组件互连标准(Peripheral Component Interconnect Express,PCI-E)接口,藉以提供与具有快速外设组件互连标准接口的固态硬盘(Solid StateDrive,SSD)直接连接。
然而对于待测试电路板上的NGFF接口的测试过程,都是需要通过外接固态硬盘来进行测试,然而固态硬盘的使用次数是有限制的,且使用固态硬盘来对待测试电路板上的NGFF接口进行测试的测试成本较高且未能提供较高的测试覆盖率。
综上所述,可知现有技术中长期以来一直存在现有NGFF接口测试具有测试成本较高且未能提供较高的测试覆盖率的问题,因此有必要提出改进的技术手段,来解决此一问题。
发明内容
有鉴于现有技术存在现有NGFF接口测试具有测试成本较高且未能提供较高的测试覆盖率的问题,本发明遂揭露一种适用于NGFF插槽的测试电路板系统及其方法,其中:
本发明所揭露第一实施态样的适用于NGFF插槽的测试电路板,其包含:NGFF接口以及测试模块。
其中,NGFF接口是采用快速外设组件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect Express,PCI-E)接口,用以插接于待测试电路板的NGFF插槽;及测试模块与NGFF接口电性连接,用以通过NGFF接口对NGFF插槽进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口(Auxiliary,AUX)测试以及系统管理总线(SystemManagement Bus,SMBus)测试。
本发明所揭露第二实施态样的适用于NGFF插槽的测试电路板,其包含:多个NGFF接口、至少一快速外设组件互连标准交换(Switch)模块以及测试模块。
其中,多个NGFF接口,采用快速外设组件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect Express,PCI-E)接口,用以每一个NGFF接口分别插接于待测试电路板的NGFF插槽;快速外设组件互连标准交换模块分为二逻辑单元,每一个逻辑单元包含虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及非透明桥接(Non-Transparent Bridge,NT Bridge)模块,非透明桥接模块包含非透明连接(NT Link)模块以及非透明虚拟(NT Virtual)模块,虚拟快速外设组件互连标准交换模块与NGFF接口其中之一以及非透明虚拟模块电性连接,非透明连接模块与另一NGFF接口电性连接;及测试模块分别与NGFF接口、虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及非透明虚拟电性连接,用以通过NGFF接口以及快速外设组件互连标准交换模块对NGFF插槽进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口(Auxiliary,AUX)测试以及系统管理总线(System Management Bus,SMBus)测试。
本发明所揭露的测试电路板如上,与现有技术之间的差异在于通过具有NGFF接口的测试电路板直接插接于待测试电路板的NGFF插槽上以对NGFF插槽进行各种对应的测试过程,或是通过具有多个NGFF接口分别插接于待测试电路板的NGFF插槽,藉由快速外设组件互连标准交换模块以及测试模块以对NGFF插槽进行各种对应的测试过程。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英业达科技有限公司;英业达股份有限公司,未经英业达科技有限公司;英业达股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611109443.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种测试SATA接口硬盘能效比的方法和装置
- 下一篇:记录系统自检错误的方法