[发明专利]光检测和测距扫描系统和方法有效
申请号: | 201611102734.6 | 申请日: | 2016-12-05 |
公开(公告)号: | CN107024686B | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 道格拉斯·R·琼沃思 | 申请(专利权)人: | 波音公司 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S17/894;G01S17/08 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 梁丽超;陈鹏 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 测距 扫描 系统 方法 | ||
1.一种扫描系统,被配置为扫描感兴趣区域,其中,所述扫描系统包括:
第一扫描器,被配置为偏转光信号,其中,由所述第一扫描器偏转的所述光信号被输出作为初始偏转光信号;
第二扫描器,被配置为接收所述初始偏转光信号并且使所述初始偏转光信号偏转,其中,由所述第二扫描器偏转的所述初始偏转光信号被输出作为后续偏转光信号;以及
设置在所述第一扫描器与所述第二扫描器之间的偏转反射镜,其中,所述偏转反射镜包括使所述初始偏转光信号通过的孔。
2.根据权利要求1所述的扫描系统,其中,所述第一扫描器和所述第二扫描器配合以使所述后续偏转光信号在组合扫描路径上移动。
3.根据权利要求1所述的扫描系统,其中,所述第一扫描器被配置为以第一速率偏转所述光信号,并且其中,所述第二扫描器被配置为以不同于所述第一速率的第二速率偏转所述初始偏转光信号。
4.根据权利要求1所述的扫描系统,其中,所述第一扫描器被配置为以第一扫描角度偏转所述光信号,并且其中,所述第二扫描器被配置为以不同于所述第一扫描角度的第二扫描角度偏转所述初始偏转光信号。
5.根据权利要求1所述的扫描系统,其中,所述第二扫描器包括被配置为相对于两个不同轴线被致动的反射镜。
6.根据权利要求1所述的扫描系统,进一步包括被配置为将所述光信号发射到所述第一扫描器中的光源。
7.根据权利要求1所述的扫描系统,进一步包括被配置为接收来自所述感兴趣区域内的物体的反射光信号的检测器。
8.根据权利要求7所述的扫描系统,进一步包括被配置为将所述反射光信号聚焦到所述检测器中的至少一个透镜。
9.一种扫描方法,被配置为扫描感兴趣区域,其中,所述扫描方法包括:
在第一扫描器处接收光信号;
利用所述第一扫描器初始偏转所述光信号;
将由所述第一扫描器偏转的所述光信号输出作为初始偏转光信号;
使所述初始偏转光信号通过设置在所述第一扫描器与第二扫描器之间的偏转反射镜的孔,
在所述第二扫描器处接收所述初始偏转光信号;
利用所述第二扫描器偏转所述初始偏转光信号;并且
将由所述第二扫描器偏转的所述初始偏转光信号输出作为后续偏转光信号。
10.根据权利要求9所述的扫描方法,进一步包括使所述后续偏转光信号在组合扫描路径上移动。
11.根据权利要求9所述的扫描方法,其中,初始偏转所述光信号包括以第一速率初始偏转所述光信号,并且其中,偏转所述初始偏转光信号包括以不同于所述第一速率的第二速率偏转所述初始偏转光信号。
12.根据权利要求11所述的扫描方法,其中所述第一速率比所述第二速率快。
13.根据权利要求9所述的扫描方法,其中,初始偏转所述光信号包括以第一扫描角度偏转所述光信号,并且其中,偏转所述初始偏转光信号包括以不同于所述第一扫描角度的第二扫描角度偏转所述初始偏转光信号。
14.根据权利要求13所述的扫描方法,其中,所述第二扫描角度大于所述第一扫描角度。
15.一种光检测和测距(LIDAR)扫描系统,被配置为扫描感兴趣区域,其中,所述光检测和测距扫描系统包括:
光源,被配置为发射光信号;
第一扫描器,被配置为接收来自所述光源的所述光信号并且以第一速率在第一扫描角度上偏转光信号,其中,由所述第一扫描器偏转的所述光信号被输出作为初始偏转光信号;
第二扫描器,被配置为接收所述初始偏转光信号并且以慢于所述第一速率的第二速率在大于所述第一扫描角度的第二扫描角度上偏转所述初始偏转光信号,其中,由所述第二扫描器偏转的所述初始偏转信号被输出作为后续偏转光信号,其中,所述第二扫描器包括被配置为相对于两个不同轴线被致动的反射镜,其中,所述第一扫描器和所述第二扫描器配合以使所述后续偏转光信号在组合扫描路径上移动;
偏转反射镜,设置在所述第一扫描器与第二扫描器之间,其中,所述偏转反射镜包括使所述初始偏转光信号通过的孔;
至少一个透镜,被配置为聚焦来自所述感兴趣区域内的物体的反射光信号,所述反射光信号通过所述偏转反射镜被偏转到所述至少一个透镜中;
检测器,被配置为接收通过所述至少一个透镜聚焦的所述反射光信号;以及
控制单元,被配置为基于通过所述检测器接收的所述反射光信号形成一个或多个图像。
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