[发明专利]一种10km长距离低阻测试通道扩展系统及方法在审

专利信息
申请号: 201611089075.7 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN108132386A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 孙德冲;蔡惠华;张莉莉;贾丰锴;葛萌;孟翔宇 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01R27/14 分类号: G01R27/14
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 任超
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 主控 电压采样模块 测试终端 通道阵列 恒流源 测试通道 扩展系统 低阻
【权利要求书】:

1.一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,其特征在于:包括测试终端A(1)、测试终端B(2),其中测试终端A(1)包括第一主控CPU3、恒流源A(4)、通道阵列A(5)、电压采样模块A(6),恒流源A(4)、通道阵列A(5)、电压采样模块A(6)均连接第一主控CPU(3);而测试终端B(2)包括第二主控CPU(7)、恒流源B(8)、通道阵列B(9)、电压采样模块B(10),恒流源B(8)、通道阵列B(9)、电压采样模块B(10)均连接第二主控CPU(7);第一主控CPU(3)与第二主控CPU(7)之间通过can总线连接;在通道阵列A(5)与通道阵列B(9)连接被测电缆。

2.根据权利要求1所述的一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,其特征在于:所述通道阵列A(5)与通道阵列B(9)可切换电流输出端、电流输入端、电压采样正端、电压采样负端到被测电缆的不同芯点。

3.一种10km长距离低阻测试通道方法,其特征在于:包括以下步骤,

S1:将被测电缆接在通道阵列A(5)与通道阵列B(9)之间,且可通过通道阵列A(5)与通道阵列B(9)切换被测电缆的不同芯点;

S2:通过电压采样模块A(6)与电压采样模块B(10)得到电压采样正端V+、电压采样负端V-;

S3:根据恒流源A(4)与恒流源B(8)可知通过电流输出端I+、电流输入端I-,在根据S2中的电压采样正端V+、电压采样负端V-,可得被测电缆电阻值。

4.根据权利要求1所述的一种10km长距离低阻测试通道方法,其特征在于:采用“四线测量法”可得被测电缆电阻值。

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