[发明专利]连续型螺旋相位板设计方法有效

专利信息
申请号: 201611019804.1 申请日: 2016-11-21
公开(公告)号: CN106569332B 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 张远航;温圣林;唐才学;王健;张清华;刘民才;杨春林;颜浩;罗子健;李昂 申请(专利权)人: 成都精密光学工程研究中心
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G02B5/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 螺旋相位板 连续型 数字滤波器 连续抛光 应用光学 高光学性能 激光器波长 连续化处理 残余误差 成像距离 仿真计算 工艺软件 工艺提取 功能校验 光场分布 目标图像 形态特征 预设要求 制作工艺 转换效率 相位板 光场 去除 拓扑 衍射 重复
【权利要求书】:

1.一种连续型螺旋相位板设计方法,其特征在于,包括以下步骤:

A.确定激光的波长λ、通光口径S及激光对应的光场分布E1

B.确定波长λ对应的目标图像分布I和成像距离L;

C.根据通光口径S与目标图像分布I确定拓扑荷数l和元件尺寸D;拓扑荷数l、旋转方位角θ与波前W之间的关系如式(1)所示:

D.确定高斯型数字滤波器的标准差σ与标准差调整因子ε,高斯型数字滤波器函数表达式如式(2)所示:

ε取值范围为(-δ%,δ%),δ为大于0且小于100的任意实数;

E.将步骤D中h(x,y)与波前W(x,y)进行二维卷积运算,获得完全连续分布的螺旋波前W′fc

W′fc(x,y)=h(x,y)*W(x,y) (3)

F.将完全连续分布的螺旋波前W′fc进行工艺仿真,获得预计的波前残差分布W(i,j),并计算波前误差参数RMSerr:

W(i,j)为波前残差分布,为波前残差分布的平均值;Ni、Nj为波前残差数据矩阵的行数与列数;

G.光学模拟:根据衍射理论模拟成像距离L处螺旋波前W′fc对应的环形光强度与理想光强度之间的光强偏差Is,如式(5)所示,并计算环带区域光强偏差Is的均匀性参数Ck,如式(6)所示:

(x1,y1)为输入面坐标,(x2,y2)为成像面坐标,Isaver为环带区域Area_ring的光强偏差平均值;

H.将波前误差参数RMSerr和光强均匀性参数Ck带入费用函数Cost:

Cost=α·RMSerr+(1-α)·CK (7)

α为权重因子,其理论取值范围为0~1,其确切值由连续抛光工艺与物理实验需求共同确定;

I.重复步骤E至H,调整标准差调整因子ε值,当费用函数Cost最小时,迭代完成,获得满足连续抛光工艺和光场性能要求的连续型螺旋相位板的波前分布Wfc

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都精密光学工程研究中心,未经成都精密光学工程研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611019804.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top