[发明专利]LTE-A终端测试系统

说明书

本发明提供一种LTE‑A终端测试系统，包括：第一LTE终端综测仪和至少一个第二LTE终端综测仪；第一LTE终端综测仪与第二LTE终端综测仪级联连接并向第二LTE终端综测仪发送接口信号，以实现第一与第二LTE终端综测仪间的频率同步、时间同步、OM控制消息的交互及第一LTE终端综测仪向第二LTE终端综测仪传输I/O数据；其中待测LTE‑A包括：主小区和至少一个辅小区；第一LTE终端综测仪对主小区中的终端进行测试；第二LTE终端综测仪与辅小区一一对应，每一第二LTE终端综测仪对与其对应的辅小区中的终端进行测试。本发明能提供LTE‑A终端测试需要的2个及2个以上LTE小区频点，逻辑简单、易于实现、制造成本低，用户使用群体的投入成本低。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种LTE-A终端测试系统。

背景技术

在长期演进(Long Term Evolution，简称LTE)技术发展初期，对LTE终端的测试一般都是通过单台综测仪来完成的，每台LTE终端综测仪只具有一个LTE小区处理能力。随着LTE技术向高级长期演进(Long Term Evolution Advanced，简称LTE-A)的发展，出现了例如LTE载波聚合(Carrier Aggregation，简称CA)等新的技术特征。对于LTE-A的相关功能测试，使得综测仪需要具备提供至少2个或者以上的LTE工作小区频点的能力，从而实现提供满足LTE-A的技术要求，以供LTE终端测试使用。

但是，在LTE终端综测仪的基础上增量开发LTE-A的功能测试能力，实现多小区处理，受限于原有结构设计和逻辑设计，协议栈复杂，硬件射频模块增多，不仅增加了单台仪表的逻辑设计复杂度，架构修改困难，且造成单台仪表成本的显著增加，给综测仪的用户使用群体带来了较高的成本付出。

鉴于此，如何提供一种能够对LTE-A终端进行测试、且逻辑简单、易于实现、低成本的LTE-A终端测试系统成为目前需要解决的技术问题。

发明内容

为解决上述的技术问题，本发明提供一种LTE-A终端测试系统，能够对LTE-A终端进行测试，满足提供2个及2个以上LTE小区频点的需要，逻辑简单、易于实现、制造成本低，可有效降低对LTE-A相关功能进行测试的用户使用群体的投入成本。

本发明提供一种LTE-A终端测试系统，包括：第一LTE终端综测仪和至少一个第二LTE终端综测仪；

所述第一LTE终端综测仪与所述第二LTE终端综测仪级联连接，所述第一LTE终端综测仪向所述第二LTE终端综测仪发送接口信号，以实现所述第一LTE终端综测仪与所述第二LTE终端综测仪之间的频率同步功能、时间同步功能、操作与维护OM控制消息的交互功能、以及实现所述第一LTE终端综测仪向所述第二LTE终端综测仪传输I/O数据的功能；

其中，待测LTE-A包括：主小区和至少一个辅小区；

所述第一LTE终端综测仪对所述主小区中的终端进行测试；

所述第二LTE终端综测仪与所述辅小区一一对应，每一第二LTE终端综测仪对与其对应的辅小区中的终端进行测试。

可选地，所述第一LTE终端综测仪包括：用于输出频率同步信号的第一接口、用于输出时间同步信号的第二接口、用于发送I/Q数据的第三接口和用于发送和接收OM控制消息的第四接口；

所述第二LTE终端综测仪包括：用于输入频率同步信号的第五接口、用于输入时间同步信号的第六接口、用于接收I/Q数据的第七接口和用于接收和发送OM控制消息的第八接口；