[发明专利]一种基于最优相似度的指纹定位方法及装置有效
申请号: | 201610264145.1 | 申请日: | 2016-04-26 |
公开(公告)号: | CN107318084B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 向平叶;陈诗军;叶小仁 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04W4/02 | 分类号: | H04W4/02;H04W4/021;H04W4/33;G01S5/02 |
代理公司: | 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙) 11308 | 代理人: | 秦力军 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 最优 相似 指纹 定位 方法 装置 | ||
1.一种基于最优相似度的指纹定位方法,包括:
将待定位点的接收信号强度向量和位置指纹数据库中位置指纹参考点的接收信号强度向量分别进行欧式距离匹配处理,确定与所述待定位点欧式的距离最小的N个位置指纹参考点;
将所述待定位点的接收信号强度向量和欧式距离最小的N个位置指纹参考点的接收信号强度向量进行相似度匹配处理,从欧式距离最小的N个位置指纹参考点中确定与所述待定位点的相似度最大的n个位置指纹参考点作为最优相似度位置指纹参考点,其中,2≤n≤N,N3;
利用n个最优相似度位置指纹参考点,计算所述待定位点的位置坐标。
2.根据权利要求1所述的方法,所述的确定相似度最大的n个位置指纹参考点作为最优相似度位置指纹参考点的步骤包括:
对所述待定位点和所述N个位置指纹参考点之间的接收信号强度向量的相似度分别进行计算,得到N个相似度;
通过对所得到的N个相似度进行排序,确定最大的n个相似度及对应所述n个相似度的n个位置指纹参考点。
3.根据权利要求1或2所述的方法,利用余弦相似度算法或修正余弦相似度算法或Pearson相似度算法进行相似度计算。
4.根据权利要求1所述的方法,所述利用所确定的多个最优相似度位置指纹参考点,计算所述待定位点的位置坐标的步骤包括:
通过对所确定的多个最优相似度位置指纹参考点的位置坐标进行加权处理,得到所述待定位点的位置坐标。
5.一种基于最优相似度的指纹定位装置,包括:
最优相似度指纹确定模块,用于将待定位点的接收信号强度向量和位置指纹数据库中位置指纹参考点的接收信号强度向量分别进行欧式距离匹配处理,确定与所述待定位点欧式的距离最小的N个位置指纹参考点;将所述待定位点的接收信号强度向量和欧式距离最小的N个位置指纹参考点的接收信号强度向量进行相似度匹配处理,从欧式距离最小的N个位置指纹参考点中确定与所述待定位点的相似度最大的n个位置指纹参考点作为最优相似度位置指纹参考点,其中,2≤n≤N,N3;
待定位点位置确定模块,用于利用n个最优相似度位置指纹参考点,计算所述待定位点的位置坐标。
6.根据权利要求5所述的装置,所述最优相似度指纹确定模块对所述待定位点和所述N个位置指纹参考点之间的接收信号强度向量的相似度分别进行计算,得到N个相似度,通过对所得到的N个相似度进行排序,确定最大的n个相似度及对应所述n个相似度的n个位置指纹参考点。
7.根据权利要求5或6所述的装置,所述最优相似度指纹确定模块利用余弦相似度算法或修正余弦相似度算法或Pearson相似度算法进行相似度计算。
8.根据权利要求5所述的装置,所述待定位点位置确定模块通过对所确定的多个最优相似度位置指纹参考点的位置坐标进行加权处理,得到所述待定位点的位置坐标。
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