[发明专利]一种阵列基板母板和显示面板母板有效

专利信息
申请号: 201610165999.4 申请日: 2016-03-22
公开(公告)号: CN105607316B 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 曹金虎;马明辉;于嘉鑫;于凤武;曹斌;权南仁;历伟;李志;曹鑫磊;郭恩科 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G09G3/00;H01L27/12
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 母板 显示 面板
【说明书】:

发明提供一种阵列基板母板和显示面板母板。所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线,所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极,所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接,所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接,所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料,且位于同层设置。本发明提供的阵列基板母板,能够防止利用栅线测试时因静电释放引起的点灯异常。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板母板和显示面板母板。

背景技术

TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器)检测领域Cell Test(液晶盒测试)采用Block Pin Contact(探针接触)方式对PanelPad(面板电极)上的Lead(引脚)区加载信号,Block Pin(探针)与Panel Pad上的Lead区一一对应,用于与检测探针接触的测试电极通过测试引线与阵列基板上的栅线连接,向栅线输送信号进行测试。由于栅线和栅极测试引线之间通常通过架桥搭建电路连接的方式进行接触,在接触过孔处会存在ESD(Electro-Static discharge,静电释放)的现象,从而会导致栅线容易被击穿,进而出现点灯异常。

发明内容

有鉴于此,本发明提供一种阵列基板母板。能够防止利用栅线测试时因静电释放引起的点灯异常。

基于上述目的本发明提供的一种阵列基板母板,所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线,所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极,所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接,所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接,所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料,且位于同层设置。

可选的,所述栅极测试电极的宽度大于所述栅极测试引线的宽度。

可选的,所述阵列基板母板还包括:

至少一个预留栅极测试电极,所述预留栅极测试电极与所述栅极测试引线之间的连接是断开的。

可选的,所述栅极驱动引线为所述栅线向非显示区域延长的延长线。

可选的,所述阵列基板母板上还设置有第一激光发生定位标记,使得后续工艺中能够通过所述第一激光发生定位标记向阵列基板上的特定区域发射激光,从而将所述栅极驱动引线烧断。

可选的,所述第一激光定位标记的一端与所述栅极驱动引线一端连线平齐。

可选的,所述阵列基板母板上还设置有第一栅极测试引线段,一端与所述栅极测试电极连接,另一端延伸到所述阵列基板母板的上边缘。

可选的,所述第一栅极测试引线段与所述栅极测试电极同层设置。

可选的,还包括数据线;所述阵列基板母板的非显示区域还设有:数据线测试引线、数据线驱动引线、数据线测试电极;所述数据线测试引线一端连接所述数据线驱动引线,另一端连接所述数据线测试电极;所述数据线驱动引线一端连接所述数据线测试引线,另一端连接所述数据线;所述数据线测试电极、所述数据线测试引线采用同种材料,且位于同层设置。

可选的,所述数据线测试电极的宽度大于所述数据线测试引线的宽度。

可选的,所述阵列基板母板还包括:

至少一个预留数据线测试电极,所述预留数据线测试电极与所述数据线测试引线之间的连接是断开的。

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