[发明专利]一种微带天线品质因数提取方法

权利要求书

1.一种微带天线品质因数提取方法，其特征在于所述方法包括如下步骤：

步骤1：获得所述微带天线随频率变化的输入电阻曲线；

步骤2：通过所述随频率变化的输入电阻曲线得到最大输入电阻值R_max、以及与所述最大输入电阻值R_max相对应的谐振频率f_r；

步骤3：在所述随频率变化的输入电阻曲线上，得到与输入电阻值0.67R_max相对应的频率f_r1和f_r2，所述频率f_r1、频率f_r2分别位于谐振频率f_r点两侧；

步骤4：根据频率f_r1、f_r2利用公式计算出微带天线的品质因数Q；

所述方法提取的品质因数准确度高，适用于各种微带天线包括低Q值微带天线。

2.根据权利要求1所述的微带天线品质因数提取方法，其特征在于在得出微带天线的品质因数Q之后，所述微带天线的输入电阻与频率之间的对应关系表示为其中，R(f)表示微带天线的输入电阻、R_max表示微带天线的最大输入电阻值、Q表示微带天线的品质因数、f表示微带天线的频率、f_r表示微带天线的谐振频率。

3.根据权利要求1所述的微带天线品质因数提取方法，其特征在于步骤1具体为通过电磁数值仿真技术或实物测试来获得所述微带天线随频率变化的输入电阻曲线。