[发明专利]成像装置、闪烁检测方法及记录介质

说明书

本发明能够提供一种即使在拍摄较亮的被摄体的情况下也能够高精度地检测闪烁的成像装置、闪烁检测方法及闪烁检测程序。数码相机以任意的帧速率通过MOS型的成像元件(5)进行多次拍摄并通过在基于该帧速率的帧期间(F1、F2)分别从成像元件(5)读出的摄像图像信号的比较来检测闪烁的有无。帧期间(F1)中的信号读出期间的结束时刻比帧期间(F1)的结束时刻早，帧期间(F2)中的信号读出期间的结束时刻与帧期间(F2)的结束时刻相同。

技术领域

本发明涉及一种成像装置、闪烁检测方法及记录介质。

背景技术

在具备通常的XY地址扫描型成像元件的成像装置中，采用通过地址指定按像素的每个扫描线控制电荷蓄积时间的滚动快门方式。在本说明书中，将数码照相机、数码摄像机及智能手机等具有摄像功能的信息设备称为成像装置。

使用该滚动快门方式在日光灯下进行视频拍摄时，因日光灯的光源的闪烁周期(例如，只要是50Hz(赫兹)或60Hz的商用电源，则为1/100秒或1/120秒)所引起的周期性亮度变化的影响，在拍摄图像中有时会产生横条文状的不均匀(以下，称为“闪烁”)。

专利文献1～3中提出有闪烁产生的有无的检测方法。

专利文献1中记载了一种成像装置，其通过设定为不产生闪烁的曝光时间而获得的摄像图像数据及设定为产生闪烁的曝光时间而获得的摄像图像数据的差分图像数据来检测闪烁。

专利文献2及专利文献3中记载了一种成像装置，其根据将曝光时间设定为1/100秒的自然数倍而获得的摄像图像数据与将曝光时间设定为1/120秒的自然数倍而得的摄像图像数据的差分来检测闪烁的有无。

以往技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开WO2008/108025号公报

专利文献2：日本特开2011-176622号公报

专利文献3：日本特开2007-329658号公报

发明内容

发明要解决的技术课题

在专利文献1中记载的成像装置中，在被摄体是非常亮的情况下，设定为不产生闪烁的曝光时间而获得的摄像图像数据整体过度曝光，从而难以由2个摄像图像数据的差分图像数据高精度地检测闪烁的产生。

在专利文献2及专利文献3中记载的成像装置中，在被摄体是非常亮的情况下，若将曝光时间设定为1/100秒的自然数倍或1/120秒的自然数倍，则以各自的曝光时间设定而得的摄像图像数据整体过度曝光，从而无法高精度地进行闪烁的检测。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于，提供一种即使在拍摄较亮的被摄体的情况下也能够高精度地检测闪烁的成像装置、闪烁检测方法及闪烁检测程序。

用于解决技术课题的手段

本发明的成像装置具备：MOS型成像元件，其具有二维状排列而成的多个像素；成像元件驱动部，以滚动快门方式驱动上述成像元件，并以任意的帧速率通过上述成像元件进行多次拍摄；及闪烁检测部，通过在基于上述帧速率的第一帧期间从上述多个像素读出的第一摄像图像信号与在基于上述帧速率的第二帧期间从上述多个像素读出的第二摄像图像信号的比较来检测闪烁的有无，上述成像元件驱动部中，将上述第一帧期间中的从上述多个像素进行信号的读出的信号读出期间的结束时刻设为比上述第一帧期间的结束时刻早，将上述第二帧期间中的上述信号读出期间的结束时刻设为与上述第二帧期间的结束时刻相同。