[发明专利]控制CIGS薄膜中钠含量的方法、太阳能电池及结构在审

专利信息
申请号: 201510366844.2 申请日: 2015-06-29
公开(公告)号: CN104993018A 公开(公告)日: 2015-10-21
发明(设计)人: 田晶;詹姆斯·黄;徐希翔;李建清;何静婧;王溢欢 申请(专利权)人: 福建铂阳精工设备有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0749
代理公司: 北京市清华源律师事务所 11441 代理人: 沈泳;李赞坚
地址: 362000 福建省泉*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 控制 cigs 薄膜 含量 方法 太阳能电池 结构
【说明书】:

技术领域

发明涉及铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能电池技术领域,具体的说是一种控制CIGS薄膜中钠含量的方法、一种用于CIGS薄膜太阳能电池的结构以及一种CIGS薄膜太阳能电池。

背景技术

CIGS薄膜太阳能电池,是由Cu(铜)、In(铟)、Ga(镓)、Se(硒)四种元素构成最佳比例的黄铜矿结晶薄膜太阳能电池,具有光吸收能力强、发电稳定性好、转化效率高、生产成本低以及能源回收周期短等诸多优势。CIGS薄膜作为光吸收层材料,其性能直接影响到CIGS太阳能电池器件的表现,特别是在钠钙玻璃衬底上生长的CIGS薄膜。

研究表明:在CIGS太阳能电池的制造及使用中,钠钙玻璃衬底中的大量钠离子会沿着钼背电极的晶界扩散进入CIGS薄膜内部,钠离子的扩散主要存在于两个过程中:第一,在CIGS薄膜的生长过程中,因为这个过程需要经历高温,在热激发状态下钠离子非常容易从钠钙玻璃衬底中扩散进入CIGS薄膜,且这个过程是自发不可控的,同时界面处的氧含量过高也会对钠离子的扩散有一定的促进作用;第二,在CIGS太阳能电池器件的使用过程中,由于电流通过以及外界由于长时间光照引起的温度升高,使得钠离子由于电激发和热激发再次扩散进入CIGS薄膜内部。微量的钠离子存在有助于CIGS晶粒的生长、获得高效的电池器件,然而过量的钠离子会在材料内部形成缺陷态,极大的影响电池效率和稳定性。

发明内容

鉴于上述问题,本申请提供一种控制CIGS薄膜中钠含量的方法、一种用于CIGS薄膜太阳能电池的结构以及一种CIGS薄膜太阳能电池。

本申请采用的技术方案是:

本申请提供一种控制CIGS薄膜中钠含量的方法,包括:

在含钠元素的衬底上形成钠离子阻挡层,阻挡所述衬底中的钠离子扩散到所述CIGS薄膜中;

在所述钠离子阻挡层上形成可控钠源层,通过控制所述可控钠源层的厚度为所述CIGS薄膜提供含量可控的钠离子。

可选的,所述钠离子阻挡层包括至少一种以下材料:氮化硅,氧化硅,氮氧化硅,氮化钛,氧化钛,氮氧化钛,氮氧化锆,氧化锆,氮化锆,氮化铝,氧化铝,氧化硅铝,氮化硅铝,氮氧化硅铝,锌锡氧化物或由硅、锆和钛中的至少一种元素与钼组成的至少两种元素的氧化物、氮化物或氮氧化物。

可选的,所述钠离子阻挡层为氮化硅,所述氮化硅的厚度大于或等于120nm、折射率为2.0~2.1。

优选的,所述氮化硅的厚度为120nm~150nm。

可选的,所述形成钠离子阻挡层的方法是直流溅射沉积、射频溅射沉积、磁控溅射沉积或离子束溅射沉积。

可选的,所述控制CIGS薄膜中钠含量的方法还包括:

在形成可控钠源层前,在所述钠离子阻挡层上形成电极层。

可选的,所述形成钠离子阻挡层的步骤、所述形成电极层的步骤及其之间的过程均是在真空状态下进行的。

可选的,所述形成电极层的方法是蒸发沉积、直流溅射沉积、射频溅射沉积、磁控溅射沉积或离子束溅射沉积。

可选的,所述电极层采用钼、镍或钨材料,所述电极层的厚度大于或等于250nm、电阻率小于14μΩ·cm。

优选的,所述电极层的厚度为300nm~350nm。

可选的,所述可控钠源层包括至少一种以下材料:氟化钠,氯化钠,溴化钠,碘化钠,碳酸钠,硫酸钠,碳酸氢钠,硫酸氢钠。

可选的,所述形成可控钠源层的方法是蒸发沉积、直流溅射沉积、射频溅射沉积、磁控溅射沉积或离子束溅射沉积。

相对应的,本申请还提供一种用于CIGS薄膜太阳能电池的结构,包括含钠元素的衬底、背电极层和CIGS吸收层;

所述衬底与所述背电极层间设有钠离子阻挡层,用于阻挡所述衬底中的钠离子扩散到所述CIGS吸收层中;

所述背电极层与所述CIGS吸收层之间设有可控钠源层,用于为所述CIGS吸收层提供含量可控的钠离子。

可选的,所述钠离子阻挡层包括至少一种以下材料:氮化硅,氧化硅,氮氧化硅,氮化钛,氧化钛,氮氧化钛,氮氧化锆,氧化锆,氮化锆,氮化铝,氧化铝,氧化硅铝,氮化硅铝,氮氧化硅铝,锌锡氧化物或由硅、锆和钛中的至少一种元素与钼组成的至少两种元素的氧化物、氮化物或氮氧化物。

可选的,所述钠离子阻挡层由氮化硅组成,所述氮化硅的厚度大于或等于120nm、折射率为2.0~2.1。

优选的,所述氮化硅的厚度为120nm~150nm。

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