[发明专利]控制CIGS薄膜中钠含量的方法、太阳能电池及结构在审
申请号: | 201510366844.2 | 申请日: | 2015-06-29 |
公开(公告)号: | CN104993018A | 公开(公告)日: | 2015-10-21 |
发明(设计)人: | 田晶;詹姆斯·黄;徐希翔;李建清;何静婧;王溢欢 | 申请(专利权)人: | 福建铂阳精工设备有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0749 |
代理公司: | 北京市清华源律师事务所 11441 | 代理人: | 沈泳;李赞坚 |
地址: | 362000 福建省泉*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 cigs 薄膜 含量 方法 太阳能电池 结构 | ||
技术领域
本发明涉及铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能电池技术领域,具体的说是一种控制CIGS薄膜中钠含量的方法、一种用于CIGS薄膜太阳能电池的结构以及一种CIGS薄膜太阳能电池。
背景技术
CIGS薄膜太阳能电池,是由Cu(铜)、In(铟)、Ga(镓)、Se(硒)四种元素构成最佳比例的黄铜矿结晶薄膜太阳能电池,具有光吸收能力强、发电稳定性好、转化效率高、生产成本低以及能源回收周期短等诸多优势。CIGS薄膜作为光吸收层材料,其性能直接影响到CIGS太阳能电池器件的表现,特别是在钠钙玻璃衬底上生长的CIGS薄膜。
研究表明:在CIGS太阳能电池的制造及使用中,钠钙玻璃衬底中的大量钠离子会沿着钼背电极的晶界扩散进入CIGS薄膜内部,钠离子的扩散主要存在于两个过程中:第一,在CIGS薄膜的生长过程中,因为这个过程需要经历高温,在热激发状态下钠离子非常容易从钠钙玻璃衬底中扩散进入CIGS薄膜,且这个过程是自发不可控的,同时界面处的氧含量过高也会对钠离子的扩散有一定的促进作用;第二,在CIGS太阳能电池器件的使用过程中,由于电流通过以及外界由于长时间光照引起的温度升高,使得钠离子由于电激发和热激发再次扩散进入CIGS薄膜内部。微量的钠离子存在有助于CIGS晶粒的生长、获得高效的电池器件,然而过量的钠离子会在材料内部形成缺陷态,极大的影响电池效率和稳定性。
发明内容
鉴于上述问题,本申请提供一种控制CIGS薄膜中钠含量的方法、一种用于CIGS薄膜太阳能电池的结构以及一种CIGS薄膜太阳能电池。
本申请采用的技术方案是:
本申请提供一种控制CIGS薄膜中钠含量的方法,包括:
在含钠元素的衬底上形成钠离子阻挡层,阻挡所述衬底中的钠离子扩散到所述CIGS薄膜中;
在所述钠离子阻挡层上形成可控钠源层,通过控制所述可控钠源层的厚度为所述CIGS薄膜提供含量可控的钠离子。
可选的,所述钠离子阻挡层包括至少一种以下材料:氮化硅,氧化硅,氮氧化硅,氮化钛,氧化钛,氮氧化钛,氮氧化锆,氧化锆,氮化锆,氮化铝,氧化铝,氧化硅铝,氮化硅铝,氮氧化硅铝,锌锡氧化物或由硅、锆和钛中的至少一种元素与钼组成的至少两种元素的氧化物、氮化物或氮氧化物。
可选的,所述钠离子阻挡层为氮化硅,所述氮化硅的厚度大于或等于120nm、折射率为2.0~2.1。
优选的,所述氮化硅的厚度为120nm~150nm。
可选的,所述形成钠离子阻挡层的方法是直流溅射沉积、射频溅射沉积、磁控溅射沉积或离子束溅射沉积。
可选的,所述控制CIGS薄膜中钠含量的方法还包括:
在形成可控钠源层前,在所述钠离子阻挡层上形成电极层。
可选的,所述形成钠离子阻挡层的步骤、所述形成电极层的步骤及其之间的过程均是在真空状态下进行的。
可选的,所述形成电极层的方法是蒸发沉积、直流溅射沉积、射频溅射沉积、磁控溅射沉积或离子束溅射沉积。
可选的,所述电极层采用钼、镍或钨材料,所述电极层的厚度大于或等于250nm、电阻率小于14μΩ·cm。
优选的,所述电极层的厚度为300nm~350nm。
可选的,所述可控钠源层包括至少一种以下材料:氟化钠,氯化钠,溴化钠,碘化钠,碳酸钠,硫酸钠,碳酸氢钠,硫酸氢钠。
可选的,所述形成可控钠源层的方法是蒸发沉积、直流溅射沉积、射频溅射沉积、磁控溅射沉积或离子束溅射沉积。
相对应的,本申请还提供一种用于CIGS薄膜太阳能电池的结构,包括含钠元素的衬底、背电极层和CIGS吸收层;
所述衬底与所述背电极层间设有钠离子阻挡层,用于阻挡所述衬底中的钠离子扩散到所述CIGS吸收层中;
所述背电极层与所述CIGS吸收层之间设有可控钠源层,用于为所述CIGS吸收层提供含量可控的钠离子。
可选的,所述钠离子阻挡层包括至少一种以下材料:氮化硅,氧化硅,氮氧化硅,氮化钛,氧化钛,氮氧化钛,氮氧化锆,氧化锆,氮化锆,氮化铝,氧化铝,氧化硅铝,氮化硅铝,氮氧化硅铝,锌锡氧化物或由硅、锆和钛中的至少一种元素与钼组成的至少两种元素的氧化物、氮化物或氮氧化物。
可选的,所述钠离子阻挡层由氮化硅组成,所述氮化硅的厚度大于或等于120nm、折射率为2.0~2.1。
优选的,所述氮化硅的厚度为120nm~150nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的