[发明专利]防反射光学部件

说明书

技术领域

本发明涉及一种对入射光具有防反射功能的防反射光学部件。

背景技术

以往，在显示器的显示部等中，为了防止由外部的光源或风景的映射而引起可见性降低，在透光性部件上设有防反射结构(防反射膜)。

例如，作为对可见光的防反射光学部件，已知有电介质多层膜、或在多层膜中具备由金属微粒层构成的可见光波长吸收层的防反射膜等(专利文献1、2等)。

专利文献1中公开有在基材膜上涂布多个薄膜而成的防反射膜中具备波长550nm下的衰减系数为0.1～5的层的结构，作为一例，举出了具备含有金属微粒而成的层的结构。

专利文献2中公开有使用链状金属胶体的低反射透明导电性层叠膜，并记载有如下内容：通过具备含有链状金属胶体的透明导电层，能够得到具有防静电性、电磁波屏蔽性、防反射性、力学特性及防污性的薄膜。

以往技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开2004/031813号小册子(日本专利第4400458号)

专利文献2：日本专利公开2001-281401号公报

发明的概要

发明要解决的技术课题

专利文献1中，波长550nm下的衰减系数为0.1～5的层即为吸收波长550nm的入射光的层，具有通过吸收入射光来提高防反射效果的结构。然而，专利文献1中所记载的结构中，存在因吸收而入射光的透射率下降的问题，并且，虽然对于550nm波长可以得到较高的防反射效果，但存在可以得到较高的防反射效果的带宽非常窄的问题。

专利文献2中，当金属胶体以具有防静电功能的程度相连成链状时，与专利文献1的情况同样地在含有链状金属胶体的层中产生入射光的吸收，可能会产生与专利文献1同样的问题。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种不会产生透射率的下降且在更宽的带宽下可以得到较高的防反射效果的防反射光学部件。

用于解决技术课题的手段

本发明的防反射光学部件为在规定介质中使用的防反射光学部件，其防止规定波长的入射光的反射，其特征在于，

具有依次层叠如下而成的层叠结构：具有大于规定介质的第1折射率的透明基材；含有多个金属微粒的含金属微粒层；及具有大于规定介质的第2折射率的电介质层，

多个金属微粒的总数的60％以上是直径相对于厚度之比为3以上的扁平金属粒子，

扁平金属粒子的主平面在相对于含金属微粒层的表面为0°～30°的范围内面取向，

在含金属微粒层中，多个金属微粒以未形成导电路的状态配置，

电介质层的厚度为入射光从电介质层的表面侧向层叠结构入射时的电介质层的表面上的反射光和电介质层与含金属微粒层的界面上的反射光发生干涉而被抵消的厚度。

规定波长的入射光是指在本发明的防反射光学部件中应防止反射的光，根据用途会有所不同，但优选规定波长为短于扁平金属微粒的等离子共振波长的短波。

规定介质是指使入射光传播的物质，是本发明的防反射光学部件的至少表面被暴露的大气(空气)、水等。

电介质层的厚度优选为400nm以下。

进而，电介质层的厚度更优选为将规定波长设为λ时光路长度λ/4以下的厚度。其中，电介质层的光路长度是指电介质层的物理厚度和电介质层的折射率相乘而得到的值。

原理上，作为电介质层的厚度，光路长度λ/8为最佳，但根据含金属微粒层的条件，最佳值会在λ/16～λ/4左右的范围内变化，因此只要根据层结构适当设定即可。

根据用扫描型电子显微镜(SEM)得到的图像来判断多个金属微粒是否以未形成导电路的状态配置。具体而言，对于光学部件的含金属微粒层，用扫描型电子显微镜(SEM)观察2.5μm×2.5μm的区域，在从所得到的图像的左端至右端为止，若微粒连续相连则视为形成有导电路，若在中途微粒分离则视为未形成导电路。

本发明中，规定波长的入射光优选为可见光(380nm～780nm)。即，本发明的防反射光学部件优选为对可见光发挥防反射功能的部件。

扁平金属粒子的直径优选为300nm以下。

作为构成金属微粒的金属，可以举出银、金、铝、铜、铑、镍、铂、钛等，最优选银。

作为透明基材的折射率的第1折射率优选小于1.8。