[实用新型]一种DDF架2M线缆端口测试工具

说明书

技术领域

本实用新型属于传输系统线缆的测试技术领域，具体涉及一种DDF架2M线缆端口测试工具。

背景技术

在通信工程施工中，传输系统的2M线缆在DDF架的配线、焊接工作量大，并经常出现断线、接触不良和线序错误等情况，是直接影响系统调试的主要因素。在以往施工过程中采用2M测试仪进行2M端口测试，或者是由网管远程进行测试。使用2M测试仪测试需要配备仪表，同时要求配线人员会熟练的使用仪表。当工作量较大或者站点较多时会受到仪表数量的制约；当使用网管测试时，只能检测设备接收侧，无法检测发送侧，同时要求网管随时有人，人员受到制约，处理故障费时、费工、费力。

发明内容

    本实用新型为了能快速准确的对2M端口进行测试，同时降低成本，提供了一种DDF架2M线缆端口测试工具。

本实用新型采用如下技术方案：

一种DDF架2M线缆端口测试工具，包括一个L9连接头和一个发光二极管，所述的发光二极管的管脚Ⅰ与L9连接头的内芯焊接，发光二极管的管脚Ⅱ与L9连接头的外皮焊接；所述的L9连接头插接到DDF架上的传输设备发送端。

本实用新型能快速检测2M线缆端口状态，操作方便、显示直观、造价低、准确度高，提高了通讯系统的调试效率，非常适用于通信施工中传输系统的调试。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的工作原理图；

图中：1-L9连接头、2-管脚Ⅰ、3-发光二极管、4-管脚Ⅱ。

具体实施方式

结合附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步说明：

如图1所示，一种DDF架2M线缆端口测试工具，包括一个L9连接头和一个发光二极管，所述的发光二极管的管脚Ⅰ与L9连接头的内芯焊接，发光二极管的管脚Ⅱ与L9连接头的外皮焊接；所述的L9连接头插接到DDF架上的传输设备发送端。

测试时，将焊接好发光二极管的L9连接头插接到DDF架上的TX端（传输设备发送端），由于2M端口的外导体处于接地状态，电位为零电位，2M端口内导体为2048bit/s的交变的2.33V脉冲信号，2M端口内导体与外导体之间产生了电位差并大于发光二极管的导通电压，促使发光二极管发光。通过二极管是否发光和发光强弱来判断传输电缆连接2M端口是否存在断线、接触不良和收发线序错误等故障。

发光二极管不亮有可能产生的故障为：①收发线序错误；②电缆断线或者漏焊、短路。

发光二极管亮度不够有可能产生的故障为：配线的焊接和压接接触不良。

在传输系统调试时，在DDF架上的测试方法为：

①              测线序：传输系统的2M线缆是按照收、发为1对线缆进行配置，采用本实用新型可以快速的对线序进行测试。将本实用新型插接到DDF架上的TX端，很快便可以看出是否发光，如果发光则证明线序正确，否则插到RX端，如果发光则证明线序错误，倒换线序即可。

②              测通断：将本实用新型插接到DDF架上的TX端，若发光二极管不发光，再插到DDF架上的RX端，若仍然不发光，证明线缆中断、或者接头漏焊、或者短路。将设备上的端头拆下，进行重新焊接或压接，或者更换线缆，便可排除故障。

检测接触不良：将本实用新型插接到DDF架上的TX端，测试工具发光很弱，证明线缆接触不良，将设备上的端头拆下，进行重新焊接或压接，或者更换线缆，便可排除故障。