[实用新型]一种光学元件涂墨检测装置有效
申请号: | 201420174686.1 | 申请日: | 2014-04-11 |
公开(公告)号: | CN203772756U | 公开(公告)日: | 2014-08-13 |
发明(设计)人: | 杨文辉;沈乾勇 | 申请(专利权)人: | 大英彰骏光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/06 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 元件 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于光学元件涂墨检测技术领域,尤其是一种光学元件涂墨检测装置。
背景技术
涂墨一般用于吸收光学元件边缘的光线,降低光学系统的杂散光系数,或用于吸收来自镜筒和光阑的反射光,或使镜头的外观更协调、美观。墨是由主剂、固化剂和稀释剂调配而成,如GT-7的配比为8:1:9~10,配比浓淡会影响涂层厚度,而涂层的厚度也与干燥条件和涂墨设备有关。因墨种、厚度和圆度偏心差会增加,所以涂墨技术指标要符合设计要求。在涂墨过程中常会出现针孔、发白、刷痕、脱墨、白点、积墨等缺陷,上述缺陷为墨种、涂墨工艺和涂墨厚度引起的,现在光学元件的涂墨质量检测多为目力判定,容易引起分歧和纠纷,需要一种简单的检测装置去判断涂墨质量。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对现有的技术存在的上述问题,提供一种光学元件涂墨检测装置,本实用新型解决的技术问题是涂墨质量判定。
为此,本实用新型所采取的技术解决方案是:
一种光学元件涂墨检测装置,待检光学元件包括光学元件和涂墨,本装置包括一个箱体和检测幕,所述箱体内设有提供检测光的光源、滤光器、避光室、图像放大装置,所述箱体在光学元件夹具上方设有放样口,所述避光室在所述光学元件夹具上方设有取样口,所述滤光器位于所述光源与所述避光室之间,固定在所述避光室左侧,放大拆卸装置把所述图像放大装置固定在避光室的右侧,所述检测幕设置在所述箱体的右侧,所述检测幕有测量刻度。
所述检测光、所述滤光器的中心点和所述图像放大装置的焦点同轴。
所述放样口、所述取样口和所述光学元件夹具同轴。
所述测量刻度为网格状,单格面积为0.25~1cm2。
上述技术方案的有益效果在于:
本实用新型装置为涂墨质量判定提供了一种简单有效的检测工具,可用来判定涂墨的针孔、发白、刷痕、脱墨、白点、积墨等质量问题,比较目力判定有依据,不容易引起纠纷和分歧,检测装置简单,易于制造,具有很高的实用价值和推广价值;涂墨图像对比可用于调整墨配比、干燥条件和调试涂墨设备。
附图说明
图1为本实用新型的光学元件涂墨检测装置的结构示意图。
图2为本实用新型的检测幕的结构示意图。
图中:1、光源;2、箱体;3、滤光器;4、避光室;5、图像放大装置;6、检测幕;7、光学元件;101、检测光;201、放样口;401、取样口;402、光学元件夹具;501、放大拆卸装置;601、测量刻度;701、涂墨。
具体实施方式
如图1和图2所示,一种光学元件涂墨检测装置,待检光学元件包括光学元件7和涂墨701,本装置包括一个箱体2和检测幕6,所述箱体2内设有提供检测光101的光源1、滤光器3、避光室4、图像放大装置5,所述箱体2在光学元件夹具402上方设有放样口201,所述避光室4在所述光学元件夹具402上方设有取样口401,所述滤光器3位于所述光源1与所述避光室4之间,固定在所述避光室4左侧,放大拆卸装置501把所述图像放大装置5固定在避光室4的右侧,所述检测幕6设置在所述箱体2的右侧,所述检测幕6有测量刻度601。
所述检测光101、所述滤光器3的中心点和所述图像放大装置5的焦点同轴。
所述放样口201、所述取样口401和所述光学元件夹具402同轴。
所述测量刻度601为网格状,单格面积为0.25~1cm2。
为使本实用新型的特点和优点更加清楚,下面结合具体实施例进行描述。
本实用新型检测原理是:光学元件能透过光束,涂墨能吸收光线,光束通过待检光学元件,可以形成明暗相间的投影,将投影放大成像,计算光路能测量涂墨厚度,检测判定针孔、脱墨、白点和积墨等涂墨缺陷,可用于调整墨配比、干燥条件和调试涂墨设备。
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