[发明专利]一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器

说明书

技术领域

本发明属于硬盘检测技术领域，具体涉及一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器。

背景技术

当前磁电硬盘行业的工厂测试所用的转接适配器,都是功能单一的连接器转换，没有测试环境评估功能，而磁电硬盘的测试对环境要求相对敏感；从所周知，在工厂生产制程中,对磁盘的测试要评估多达上100项的参数,而其中有近30项测试对环境要求极其敏感，所以测试时,要求各测试站的测试环境尽可能的一致，但对于大批量的生产制程来说,这个环境要求是有相当难度的，所以需要通过对测试环境参数进行测试评估,然后反馈测试系统,以修正测试数据的测试方案，进而完成磁电硬盘测试，提高产品测试的准确性、稳定性及产品合格率。

基于上述问题，本发明提供一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器。

发明内容

发明目的：本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，解决现有传统接口适配器单纯的连接功能，提高磁电硬盘检测过程的稳定性、精准性及便于控制检测环境、保证上下步骤检测环境一致。

技术方案：一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，包括MCU微控制单元、及于MCU微控制单元连接MCU电源电路模块、温度测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块和硬盘与服务器通讯互连电路模块，其中MCU电源电路模块分别与稳定测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块进行供电；所述MCU微控制单元接收本地温度测试模块和湿度测试模块参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块连接的上位机显示；同时所述MCU微控制单元接收远端温度测试模块的参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块连接的上位机显示。

进一步的所述用于超高速磁电硬盘的接口适配器还包括与MCU微控制单元连接的MCU外部辅助电路模块，其中MCU外部辅助电路模块与MCU电源电路模块连接。

进一步的所述MCU微控制单元为51单片机芯片。

进一步的所述温度测试模块和远端温度测试模块为温度传感器或温度测试仪，湿度测试模块为湿度传感器或湿度测试仪。

进一步的所述温度测试仪优选杭州奋乐仪器厂生产的型号为FLA5000。

进一步的所述湿度测试仪优选深圳市恩慈电子有限公司生产的型号为DT-625。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，1、结构简单、抗震；2、通过温度测试模块、湿度测试模块对检测现场温度、湿度进行监控管理以符合磁电硬盘检测标准参数，同时通过远端温度测试模块监控上一步骤检测温度辅助控制检测现场温度，以达到所有检测项温度相同，进而提高检测精准度。同时本发明生产成本低、易推广。

附图说明

图1是本发明一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器的结构示意图；

图2是本发明一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器的数据处理流程图；

图3是本发明一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器的电路图；

图4是本发明一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器的电路板结构示意图；

其中图中序号如下：1-MCU微控制单元、2-MCU电源电路模块、3-MCU外部辅助电路模块、4-温度测试模块、5-湿度测试模块、6-远端温度测试模块、7-硬盘与服务器通讯互连电路模块。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明。

如图1所示的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，包括MCU微控制单元1、及于MCU微控制单元1连接MCU电源电路模块2、温度测试模块4、湿度测试模块5、远端温度测试模块6和硬盘与服务器通讯互连电路模块7，其中MCU电源电路模块2分别与温度测试模块4、湿度测试模块5、远端温度测试模块6进行供电；所述MCU微控制单元1接收本地温度测试模块4和湿度测试模块5参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块7连接的上位机显示；同时所述MCU微控制单元1接收远端温度测试模块6的参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块7连接的上位机显示。