[发明专利]用于改进准直灵敏度的系统和方法有效
申请号: | 201410514793.9 | 申请日: | 2014-09-30 |
公开(公告)号: | CN105011959B | 公开(公告)日: | 2019-10-01 |
发明(设计)人: | A.撒哈;A.奥芬 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶晓勇;姜甜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平行孔 针孔准直仪 准直仪 中心开口 灵敏度 准直 针孔 组合件 个壁 改进 | ||
1.一种准直仪组合件(100),包括:
平行孔准直仪(120),包括限定其间的平行孔(124)的多个壁(122),所述平行孔(124)设置在中心开口(126)周围;以及
针孔准直仪(150),包括在主体(152)中形成的针孔(154),所述针孔准直仪(150)设置在所述中心开口(126)之内。
2.如权利要求1所述的准直仪组合件(100),其中,所述多个壁(122)限定从所述多个壁(122)的底部(132)延伸到所述多个壁(122)的顶部(134)的高度(130),其中所述针孔准直仪(150)在所述中心开口(126)中设置成接近所述高度(130)的中点(136)。
3.如权利要求1所述的准直仪组合件(100),其中,所述中心开口(126)具有大体正方形截面。
4.如权利要求1所述的准直仪组合件(100),还包括定位成接收经过所述平行孔准直仪(120)的所述平行孔(124)的辐射的第一探测器(170)以及定位成接收经过所述针孔准直仪(150)的辐射的第二探测器(180),所述第一探测器(170)包括与所述平行孔准直仪(120)的所述中心开口(136)对应的探测器中心开口(172),所述第一探测器(170)设置成接近所述平行孔准直仪(120)的探测器端(118),所述第二探测器(180)与所述平行孔准直仪(120)的所述探测器端(118)间隔一定距离。
5.如权利要求1所述的准直仪组合件(100),其中,所述平行孔准直仪(120)具有第一空间分辨率,以及所述针孔准直仪(150)具有第二空间分辨率,其中所述第一空间分辨率和所述第二空间分辨率大致相同。
6.一种旋转头探测器组合件(300),包括:
支臂(306);以及
探测器头(304),通过枢轴附连到所述支臂(306),所述探测器头(304)配置成指向源,所述探测器头包括:
多个NM成像探测器(170,180),配置成从所述源接收辐射,每个NM成像探测器(170,180)定位成通过所述NM成像探测器(170,180)的至少一部分直接从所述源接收辐射;以及
至少一个针孔准直仪(150),定位成对所述NM成像探测器(170,180)的至少一个所接收的辐射进行准直,
还包括平行孔准直仪(120),其中包括限定其间的平行孔(124)的多个壁(122),所述平行孔(124)设置在中心开口(126)周围,其中所述至少一个针孔准直仪(150)包括在主体(152)中形成的针孔(154),所述至少一个针孔准直仪(150)设置在所述中心开口(126)中。
7.如权利要求6所述的旋转头探测器组合件(300),其中,所述多个壁(122)限定从所述多个壁(122)的底部(132)延伸到所述多个壁(122)的顶部(134)的高度(130),其中所述针孔准直仪(150)在所述中心开口(126)中设置成接近所述高度(130)的中点(136)。
8.如权利要求6所述的旋转头探测器组合件(300),其中,所述中心开口(126)具有大体正方形截面。
9.如权利要求6所述的旋转头探测器组合件(300),其中,所述NM成像探测器(170,180)包括定位成接收经过所述平行孔准直仪(120)的所述平行孔(124)的辐射的第一探测器(170)以及定位成接收经过所述针孔准直仪(150)的辐射的第二探测器(180),所述第一探测器(170)包括与所述平行孔准直仪(120)的所述中心开口(126)对应的探测器中心开口(172),所述第一探测器(170)设置成接近所述平行孔准直仪(120)的探测器端(118),所述第二探测器(180)与所述平行孔准直仪(120)的所述探测器端(118)间隔一定距离。
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