[实用新型]断路器电气特性试验台专用接触探针

说明书

技术领域

本实用新型属于一种断路器电气特性试验台专用件，特别是涉及一种用来实现与多种不同型号断路器良好接触功能的断路器电气特性的试验台专用接触探针。

背景技术

目前公知的应用于检测断路器电气特性的试验台的接触装置，多是运用接触探针。运用接触探针与断路器的金属部分接触，构成回路，进而可以测试断路器的各种电气特性。就目前情况看，接触探针本身长度短，可伸缩量比较小，可以适用的不同型号的断路器范围比较窄；接触探针本身结构比较细，不能承受当开关分合闸时，所带来的冲力，导致探针的使用寿命比较短；接触探针电极的直径比较小，不能承受电路中的大电流。如果此时只是简单的按照试验所需，改进接触探针的材质，不仅性能提高不了太多，而且还会造成资源、材料以及时间上的浪费，反而大大地增加了成本。

发明内容

本实用新型为解决公知技术中存在的技术问题而提供一种断路器电气特性的试验台专用接触探针。

本实用新型为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是：它包括有长度为100-200毫米、直径为2-3毫米的电极杆、轴套、带有中心孔的上下轴套盖、弹簧和定位环；所述的电极杆的一端侧带有螺纹，在距其另一端约为所述电极杆长度三分之一处固连有所述的定位环；内径与所述电极杆外径相匹配的所述弹簧穿套在所述的电极杆上，且所述电极杆仍可在所述弹簧内自由活动；穿套在所述电极杆上的所述弹簧的一端顶靠在所述的定位环上，所述弹簧另一端与由所述电极杆带螺纹一侧套在所述电极杆上的所述下轴套盖的一端相接触，所述下轴套盖的另一端与一旋紧在所述电极杆螺纹上的螺母相靠接；所述的轴套的上端的一上环形凹槽与所述上轴套盖上的凹槽彼此紧配合的卡固在一起后，再由所述电极杆固连有定位环一侧的端部穿套在所述的电极杆上，且所述轴套下端的下环形凹槽与所述已套在所述电极杆上的下轴套盖的下轴套凹槽彼此紧配合卡固在一起。

本实用新型具有的优点和积极效果是：该接触探针可以承受大于100g的压力，可以有较长的使用寿命；有大于30mm的伸缩量，可以充分的接触多种型号的断路器；电极直径足够大，可以检测高于5安培的电流；有直径为6mm左右足够粗的轴套管，机械强度好，可以承受比较大的冲击力。相比较普通接触探针，还拥有结构简单、成本低、易操作等显著优点。

附图说明

图1是本实用新型总体结构示意图；

图2是本实用新型去掉轴套后的结构示意图；

图3是本实用新型上轴套盖结构示意图；

图4是本实用新型下轴套盖结构示意图；

图5是本实用新型轴套结构示意图。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的发明内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下：

如图1、2、3、4、5所示，在长度为120毫米、直径为2.5毫米的电极杆1的一端侧带有螺纹5，在距电极杆另一端长度为三分之一处焊接有定位环2；内径与电极杆1外径相匹配的弹簧3穿套在电极杆1上，且电极杆1仍可在弹簧3内自由活动；穿套在电极杆1上的弹簧3的一端顶靠在定位环2上.。分别带有中心孔11、13的上、下轴套盖6、7，上、下轴套盖6、7可通过中心孔11、13穿套在电极杆1上。弹簧3另一端与由电极杆1带螺纹5一侧套在电极杆上的下轴套盖7的一端相接触，下轴套盖7的另一端9与一旋紧在电极杆1螺纹上的螺母4相靠接；轴套8的上端的一上环形凹槽16与上轴套盖6上的凹槽12彼此紧配合的卡固在一起后，再由电极杆1的定位环2一侧的端部穿套在电极杆1上，且轴套8下端的下环形凹槽17与已套在电极杆1上的下轴套盖7的下轴套凹槽14彼此紧配合卡固在一起。

电极杆1的长度可根据实际需要采用100毫米直到200毫米。而电极杆的直径也可根据试验电流实际需要采用2毫米到3毫米。