[实用新型]LED灯来料测试架有效

专利信息
申请号: 201320171703.1 申请日: 2013-04-03
公开(公告)号: CN203259634U 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 赖乃祥 申请(专利权)人: 赖乃祥
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 514439 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: led 来料 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及LED灯珠检测设备的技术领域,具体说是LED灯来料测试架的技术。

背景技术

LED卷料来料时均需要对灯珠进行抽检,验收灯珠能否正常通电及发光效果的一致性。但来料时灯珠的数量往往很大,就算是小比例的抽检,也会浪费大量的人工,同时也不方便一致性的比对。其中LED是英文单词的缩写,即Light Emitting Diode的缩写,发光二极管,是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件,它可以直接把电转化为光。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能够同时测试多数量LED灯珠,方便灯珠发光一致性的比对,进行老化实验的LED灯来料测试架。

本实用新型通过以下技术方案来实现。

一种LED灯来料测试架,其特征在于:所述LED灯来料测试架包括基座、电源、控制器、电极组件和电极端子,在基座上设有至少两个LED灯珠安装位,每个LED灯珠安装位均设有灯珠引脚,电源为控制器、各LED灯珠安装位上安装的LED灯珠供电,每个LED灯珠安装位通过灯珠引脚、电极端子与电极组件电路连接,电源与电极组件电路连接。

所述基座上设有透明隔板。

所述基座的一侧安装电极组件,相对的一侧也安装电极组件,基座上的LED灯珠安装位分组设置,每一组均设有至少两个LED灯珠安装位,相邻两个两个LED灯珠安装位通过灯珠引脚串联连接,每一组串联连接的LED灯珠安装位通过电极端子连接对应一侧的电极组件上。

所述电源、控制器均设在基座的一侧面。

本实用新型与现有技术相比具有以下优点。

本实用新型所述结构可以同时测试多数量LED灯珠,方便灯珠发光一致性的比对,还可以通过定时器进行老化实验。

附图说明

图1为本实用新型LED灯来料测试架结构示意图;

图2为图1在A-A处的剖切结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型LED灯来料测试架作进一步详细描述。

如图1、图2,本实用新型LED灯来料测试架,包括基座1、电源2、控制器3、电极组件4和电极端子5,在基座1上设有至少两个LED灯珠安装位11,每个LED灯珠安装位11均设有灯珠引脚12,电源2为控制器3、各LED灯珠安装位上安装的LED灯珠6供电,每个LED灯珠安装位11通过灯珠引脚12、电极端子5与电极组件4电路连接,电源2与电极组件4电路连接。在基座上设有透明隔板7。其中基座的一侧安装电极组件,相对的一侧也安装电极组件,基座上的LED灯珠安装位分组设置,每一组均设有至少两个LED灯珠安装位,相邻两个两个LED灯珠安装位通过灯珠引脚串联连接,每一组串联连接的LED灯珠安装位通过电极端子连接对应一侧的电极组件上。电源2、控制器3均设在基座1的一侧面。本实用新型所述结构可以同时测试多数量LED灯珠,方便灯珠发光一致性的比对,还可以通过定时器进行老化实验。

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