[实用新型]多探头OLED光学参数测试系统有效

专利信息
申请号: 201320165229.1 申请日: 2013-04-03
公开(公告)号: CN203241216U 公开(公告)日: 2013-10-16
发明(设计)人: 张光浩 申请(专利权)人: 四川虹视显示技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 周永宏
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 探头 oled 光学 参数 测试 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型属于光学参数测试技术领域,具体涉及一种OLED的光学参数测试系统。

背景技术

随着OLED行业的技术实力不断提高,对OLED产品的寿命要求也越来越高。面对客户对产品质量的高要求,以往人工检测的方式已经无法满足生产质量的高要求,其表现为:

1、人工操作的因素导致的误差不可避免,同一个人每次测量时的误差或者不同的人测量时的误差积累会导致最终评价结果与实际产品情况误差较大。

2、采用人工测试会导致的测试数据的采集频率较低,因而得出测试结果不够严谨,加速寿命测试的整个试验周期较短,因此在有限的时间内每次测量的时间间隔越短,最终拟合出来的数据才会越准确,但人工测试的方法无法满足高频率的测试数据采集。

3、无法实现同时自动测试多个样品,每次试验会采取多样品同时试验的方法来保证采集数据的有效性,但如果用单探头测试系统在多个样品之间进行手动移动来回进行测量的话既无法实现固定点自动测试功能,因为每次移动后无法在短时间内准确的找到原来的测试点,也无法保证采集数据的准确性,也会浪费不少时间。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种多探头OLED光学参数测试系统,该测试系统能够实现对多件被测OLED样品同时进行测试,并且准确性高。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是:多探头OLED光学参数测试系统,包括光学参数测试单元和OLED驱动单元,所述光学参数测试单元包括色彩分析仪、至少两个测试探头以及多探头扩展板,所述多探头扩展板用于连接色彩分析仪和测试探头,所述OLED驱动单元用于驱动OLED被测件,所述测试探头与色彩分析仪连接,测试探头用于采集OLED被测件的光学参数信息并且将光学参数信息传输到色彩分析仪。

进一步的,还包括测试控制单元,所述测试控制单元与色彩分析仪连接,测试控制单元通过向色彩分析仪传输控制信号到测试探头用于控制测试探头对OLED被测件的光学参数采集。

更进一步的,所述的测试控制单元采用EXCEL软件编程控制测试探头对OLED被测件的光学参数采集。

进一步的,还包括数据处理单元,所述数据处理单元与色彩分析仪连接,用于存储色彩分析仪中的OLED被测件的光学参数信息。

更进一步的,所述的数据处理单元采用EXCEL软件编程对OLED被测件的光学参数信息的存储。

进一步的,所述OLED驱动单元包括可编程直流电源和测试卡,所述可编程直流电源和测试卡点亮OLED被测件,通过调节可编程直流电源的电流大小调整OLED被测件的亮度大小。

进一步的,所述的光学参数测试单元还包括探头固定装置,所述探头固定装置用于固定测试探头。

更进一步的,所述的探头固定装置为三脚架。

本实用新型的有益效果是:本实用新型多探头OLED光学参数测试系统通过采用多探头扩展板连接多个测试探头与色彩分析仪,实现了同时对多个OLED被测件的光学参数的信息采集,并且通过增加测试控制单元对测试探头的控制,排除了人为因素造成的误差,保证了采集数据的准确性,提高了检测系统的精确度。

附图说明

图1为本实用新型实施例的多探头OLED光学参数自动测试系统的结构框图;

其中:1-多探头扩展板,2-测试探头。

具体实施方式

本实用新型实施例的多探头OLED光学参数测试系统,如图1所示的结构框图,其包括光学参数测试单元和OLED驱动单元,所述光学参数测试单元包括色彩分析仪、至少两个测试探头2以及多探头扩展板1,所述多探头扩展板1用于连接色彩分析仪和测试探头2,OLED驱动单元用于驱动OLED被测件,所述测试探头与色彩分析仪连接,测试探头2用于采集OLED被测件的光学参数信息并且将光学参数信息传输到色彩分析仪。采用多个测试探头2同时对多个OLED被测件进行检测,实现了同时对多个OLED被测件的光学参数的信息采集,提高了测试效率。

为了实现测试探头2对OLED被测件进行光学参数采集的自动化,多探头OLED光学参数测试系统可以包括测试控制单元及数据处理单元,所述测试控制单元与色彩分析仪连接,通过测试控制单元向色彩分析仪传输控制信号到测试探头2,控制测试探头2对OLED被测件的光学参数采集;所述数据处理单元与色彩分析仪连接,用于存储色彩分析仪中的OLED被测件的光学参数信息。通过采用测试控制单元的编程实现对OLED被测件的自动化检测,其中采集的频率由测试控制单元控制,减少了人工操作带来的检测误差。

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