[实用新型]一种光分路器自动测试仪有效

专利信息
申请号: 201320027794.1 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN203166919U 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 林祥忠 申请(专利权)人: 上海全友通信技术有限公司
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 胡美强
地址: 200245 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 分路 自动 测试仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种光分路器测试仪,尤其涉及一种光分路器自动测试仪。

背景技术

随着光纤通信的投资方向由通信干线,城域网等向光纤到户的方向发展,光纤到户的核心光器件光分路器的需求也将不断扩大。光分路器是光纤链路中最重要的无源器件之一,是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件。光分路器按原理可以分为熔融拉锥型(FBT)和平面波导型(PLC)两种。

目前,平面光波导分路器的测试领域中,主流产品为多通道综合测试仪,即通过8个探测器,同时测试8路PLC输出的方式进行PLC测试,该测试方案集成了光源、光开关模块、偏振控制器及8通道光功率计,可对PLC器件进行插入损耗,偏振相关损耗、均匀性、附加损耗等指标进行测试,但由于其使用8个探测器,故不可避免引入了通道间的漂移和偏差,使用机械式偏振控制器,偏振相关损耗测试速度慢且精确度低(三波长测试约为30秒),由于需要对8个通道分别进行归零操作,效率低下,需对PLC器件输出端每个端口进行剥纤,并使用裸纤夹持器,操作繁琐,引入误差大,且测试重复性差,虽有厂家提供了带纤熔接技术,然而带纤熔接机价格十分昂贵,性价比不高;传统8通道测试系统测试流程如图1所示。因此,当前平面光波导分路器测试已成为很多生产商产能瓶颈,虽然市场上有很多厂家可以提供多通道PLC测试设备,但操作步骤繁多,测试效率太低,测试精度不高以及稳定性较差。

发明内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中的多通道测试仪测试效率低下,测试精度较低以及稳定性较差的问题,提供一种光分路器的自动测试仪来解决上述问题。

为了实现上述目的,本实用新型的技术方案如下:

一种光分路器自动测试仪,其特征在于,包括多波长光源、光分路器、测试模块、控制器和计算机,所述光分路器的输入端与多波长光源光纤连接,光分路器的输出端与测试模块的输入端光纤连接;所述光分路器上设有带纤夹底座;所述测试模块包括光电探测器、步进电机,所述光电探测器为高速采样光功率计,光电探测器上设有一挡片,该挡片上设有一槽,该槽使得同一时刻仅有光分路器的一个通道的输出光透过;所述计算机与测试模块、控制器、多波长光源设有通讯连接;所述控制器用于控制测试模块。

所述槽的宽度为100±25um。

所述测试模块还包括电动平移台,该电动平移台用于移动光电探测器。

所述带纤夹底座下方设有手动平台,所述手动平台用于微调光分路器输出端与光电探测器的距离。

所述高速采样光功率计采样速率为50K/S,偏振模块一秒内在邦加球上产生10000个偏振态。

所述光分路器自动测试仪的测试方法,包括如下步骤:

1)连接光分路器的输入端:将光源输出端用光纤夹夹牢后放入夹具底座内测试参考光后将分光路器的输入端与光源的输出端熔接;

2)连接光分路器的输出端:将输出端带状光纤加持后剥除覆层,将带状光纤端面切平放入夹具底座内;

3)测试:调整光纤端面的距离后,点击测试仪开始,自动完成测试。所述测试参数包括插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗、方向性、均匀性。

与现有技术相比,本实用新型的光分路器自动测试系统,测试步骤简单,能够大幅提高测试效率和测试精度。消除了多通道测试方案中通道间漂移和计量偏差及参考值归零时繁琐操作的缺陷。在连接输出端步骤中,无带纤熔接失败重复步骤,无带纤熔接时引入的IL及PDL损耗,降低外界耦合误差,无需使用带纤熔接机,降低设备成本。采用高速偏振模块,邦加球覆盖率高,测试值更为准确。采用自主开发的测试系统,可以实现完全无纸化储存,具有自动生成测试报告、自动分级等功能。本实用新型可适用于不同类型的光分路器的产品测试,包括平面波导型光分路器、熔融拉锥型光分路器。

附图说明                                               

图1为传统8通道测试系统测试流程示意图;

图2为本实用新型光分路器的自动测试仪的结构示意图;

图3为本实用新型光功率计前端挡片上的狭缝示意图;

图4为本实用新型光分路器输出端带状光纤结构示意图;

图5为本实用新型测试模块示意图。

具体实施方式

为使对本实用新型的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识,用以较佳的实施例及附图配合详细的说明,说明如下:

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