[发明专利]具有多个测试站的转盘式测试装置与系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，特别是涉及一种可以同时对多个电子元件连续进行不同测试的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统。

背景技术

近年来，为了缩减电子产品的体积与增加其功能，设计并制作出具有多种不同功能的电子元件(例如微机电元件)以取代传统仅具有单一功能的电子元件。然而，这些具有多种功能的电子元件在完成制作之后，往往需要对于不同的功能进行不同的测试，但是大部分的测试装置都仅能进行单一测试，所以需要电子元件转移到不同的测试装置而进行不同的测试项目。如此一来，不但大幅地增加测试时间与成本，而降低测试的产能，更因在不同的测试装置之间转移，有很大的机率会因人为或机械的疏失而在转移时造成电子元件的损害，而降低测试的合格率。

为了解决上述问题，近年来发展出一种多功能测试装置，可以对电子元件进行不同的测试项目。参照图1，其为目前常用的多功能测试装置10的示意图。多功能测试装置10包含转盘12、以及数个直线式测试单元14，其中，每一个直线式测试单元14由数个不同的测试工作站t1、t2、t3、t4直线排列而组成。在每一个直线式测试单元14中都具有移载装置(shuttle)16，用以承载电子元件(IC)并将其传送到直线式测试单元14中的不同的测试工作站t1、t2、t3、t4，以进行不同的测试，例如压力测试、感光测试等等。当转盘12将一个电子元件传送至直线式测试单元14中进行测试时，必须要等到此电子元件完成直线式测试单元14中的所有测试工作站t1、t2、t3、t4的测试，并且由直线式测试单元14取出后，才能将另一个电子元件置入直线式测试单元14进行测试。因此，在上一个电子元件未完成直线式测试单元14上所有的测试项目之前，即未完成所有测试工作站t1、t2、t3、t4所提供的测试之前，同一个直线式测试单元14并无法对另一个电子元件进行测试，既使在直线式测试单元14中进行测试的电子元件已经完成部份测试项目(例如完成测试工作站t1、t2、或t3测试项目)，但是仍然需要等到此一个电子元件完成所有的测试项目，并由直线式测试单元14取出之后才能放入下一个电子元件进行测试。换言之，在直线式测试单元14对一个电子元件进行测试时，既使有直线式测试单元14中有测试工作站空出来，也无法置入下一个电子元件进行测试，导致这些空出来的测试工作站处于闲置状态(idle)，而无法连续地置入电子元件进行测试，使得测试装置无法有效地被利用，而造成测试时间过长、进而导致测试产能低下与测试成本无法降低等问题。

有鉴于此，亟需要一种测试装置或系统，可以对连续地电子元件进行不同的测试项目，而减少测试装置中的测试工作站闲置(idle)的时间与机率，进而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。

发明内容

本发明的一目的为提供具有多个测试站的转盘式测试装置，可以同时对多个电子元件连续进行不同的测试项目，而不会让任何测试工作站(或测试模块)处于闲置状态(idle)，从而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。

本发明的另一目的为提供具有多个测试站的转盘式测试系统，可以同时对多个电子元件连续进行不同的测试项目，并对测试系统进行最大效能的利用，不会让任何测试工作站(或测试模块)处于闲置状态(idle)，从而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。根据本发明的一目的，本发明提供一种具有多个测试站的转盘式测试装置。此具有多个测试站的转盘式测试装置包含用以传送电子元件的输送转盘，以及多个测试转盘。其中，每一个测试转盘周围设置有多个不同的测试模块以形成多个不同的测试工作站，从而提供不同的测试项目而对电子元件(例如IC、MEMS元件等)进行不同的测试(例如感光测试、压力测试、温度测试、磁力测试、翻转测试等)。测试转盘可以自由地来回转动，而每一个测试转盘周围设置的各个测试模块则是固定而不会随着测试转盘转动。此具有多个测试站的转盘式测试装置借由测试转盘转动，在一个测试工作站对一个电子元件完成测试之后，可以将该电子元件送入下一个测试工作站进行测试，并同时将另一个待测试的电子元件带入此测试工作站中进行测试，并且设置于该测试转盘周围各个测试模块皆以此模式运作，使得各个测试工作站(或测试模块)都是连续地对不同的待测电子元件进行测试，而不会有闲置时候，从而缩短测试时间，增加测试产能与效能、以及降低测试成本。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。