[发明专利]一种陶瓷基片表面的微带线电路线宽制造误差检测方法

说明书

技术领域

本发明属于电路测量领域，具体公开了一种陶瓷基片表面的微带线电路线宽制造误差检测方法。

背景技术

导航卫星是卫星导航系统的关键组成部分之一，导航卫星需要与地面应用系统进行通信才能使整个系统工作。导航卫星天线是导航卫星发射信号或接收信号的关键部件，无线电波信号通过天线进入导航卫星，或者由导航卫星发出。导航卫星天线是信号传输质量高低的关键点之一。导航卫星所使用的载波信号为高频微波信号，对天线尺寸精度要求较高。常见的导航卫星天线是用银浆镀在陶瓷基片表面，形成微带线电路。导航卫星天线中的微带线电路对的线宽要求很严格，制造精度要求达到0.01mm。微带线电路在制造完成以后，需要对微带线电路线宽进行检测，用以确定制造误差。微带线电路被测量的线宽位于陶瓷基片表面，常规测量工具不方便进行精确测量。常规的检测方式是是使用高倍显微镜放大物像以后人工检测。人工检测的效率低下,而且人眼长期观测高倍显微镜，容易出现视觉疲劳,造成误检,导致不必要的损失。

发明内容

本发明公开了一种陶瓷基片表面的微带线电路线宽制造误差检测方法，通过采用拍摄图像，再采用图像处理方式与检测标准CAD图档进行比较，自动计算得到微带线电路线宽误差。变手动检测为自动检测，提高了检测精度。

一种陶瓷基片表面的微带线电路线宽检测方法：

首先，将待检测陶瓷基片电路板设计图制成检测标准CAD图档，再把被检测陶瓷基片电路板拍照，提取照片图像中的电路轮廓，将检测标准CAD图档映射到图像轮廓中得到匹配向量Ｘ，再把检测标准CAD图档中标准线宽映射到图像轮廓中，最后，通过拟合图像中电路线宽两边缘得到边缘直线，得到的两直线距离与检测标准CAD图档中相对应两直线距离差为电路线宽制造误差；

具体步骤为：

Ｓ1：把待检测陶瓷基片电路板设计图制成检测标准CAD图档，检测标准CAD图档中包括陶瓷基片电路板边界轮廓，以两条直线表示一段待检测电路；

S2：把被检测陶瓷基片电路板按与检测标准文档相对应方向拍照，采用Otsu算法对图像进行二值化，然后采用边界跟踪算法得到陶瓷基片电路板图像边界轮廓离散点序列和图像边界轮廓内的电路线宽边缘轮廓离散点序列，通过计算封闭轮廓的区域面积，选出面积最大值封闭轮廓；

S3：采用曲线数据压缩算法Douglas-Peucker对陶瓷基片电路板图像边界轮廓离散点序列进行近似，近似结果为多边形，多边形顶点为边界轮廓上的点；

S4：计算多边形顶点数量，如果数量大于4则有倒角边。计算相邻两顶点之间的距离，如果相邻两顶点间距离远小于前后相邻距离，则判断此两点连线为倒角边，把此倒角边相邻两线求交点，用此交点替换倒角边两端点，最终得到四个顶点，以左上顶点为起始点，顺时针方向排序，所得点坐标为P21：（x₂₁,y₂₁）,P22：（x₂₂,y₂₂）,P23：（x₂₃,y₂₃）,P24：（x₂₄,y₂₄）

所得点坐标组成矩阵：B=x21y21x22y22x23y23x24y24]]>