[发明专利]光学头及使用其的光学系统有效

专利信息
申请号: 201310432079.0 申请日: 2013-09-22
公开(公告)号: CN103728015A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 洪健翔 申请(专利权)人: 台湾超微光学股份有限公司
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04;G01J3/02
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 许志勇
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 使用 光学系统
【权利要求书】:

1.一种光学头,用以接收一入射光,其特征在于,该光学头包含:

一穿透式余弦校正元件,配置于该入射光的一光径上,该入射光在射入该穿透式余弦校正元件后被转换为朗伯光形的一散射光,且不同角度射入该穿透式余弦校正元件的该入射光对该穿透式余弦校正元件具有实质上相同的穿透率;以及

一反射元件,具有至少一光学输出区与一反光区,该反射元件朝向该穿透式余弦校正元件配置,而该穿透式余弦校正元件对该反射元件遮蔽该入射光,其中部分来自该穿透式余弦校正元件的该散射光射入该光学输出区,未射入该光学输出区的该散射光则射入该反光区,而射入该反光区的该散射光被反射至该穿透式余弦校正元件及/或反光区的其他部分。

2.如权利要求1的光学头,其特征在于,该反射元件具有多个光学输出区。

3.如权利要求2的光学头,其特征在于,该反射元件的该些光学输出区相对于反射元件的中心轴对称。

4.如权利要求2的光学头,其特征在于,该些光学输出区的面积实质上相同。

5.如权利要求1的光学头,其特征在于,该反射元件为凹面镜、具回反射结构的平面镜、具回反射结构的凹面镜、具扩散结构的平面或具扩散结构的凹面其中之一。

6.如权利要求1的光学头,其特征在于,更包含一或多个反射器,连接该穿透式余弦校正元件,朝向该反射元件,上述反射器与该穿透式余弦校正元件实质上共平面。

7.一种光学头,用以接收一入射光,其特征在于,该光学头包含:

一反射式余弦校正元件,具有一光学输出区以及一反光散射区,该反射式余弦校正元件配置于该入射光的一光径上;

一反射元件,朝向该反射式余弦校正元件设置,其中该入射光射入该反光散射区,并被该反射式余弦校正元件转换为朗伯光形的一散射光,而使不同角度射入该反射式余弦校正元件的该入射光对该反射式余弦校正元件具有实质上相同的反射率,该散射光入射该反射元件及/或该反光散射区的其他部分;以及

一收光元件,配置于该反射式余弦校正元件的该光学输出区处以接收来自該反射元件的该散射光,且该收光元件的收光范围在可将来自该反射式余弦校正元件的该散射光反射至该光学输出区的该部分的该反射元件内。

8.如权利要求7的光学头,其特征在于,该反射式余弦校正元件为平面或凹面。

9.如权利要求7的光学头,其特征在于,该反射元件为凸面镜、平面镜、凹面镜、具扩散结构的平面或具扩散结构的凹面其中之一。

10.如权利要求7的光学头,其特征在于,更包含一管状反射壁,环绕该反射式余弦校正元件与该反射元件,且形成一光通道使该入射光通过该光通道射入该反射式余弦校正元件。

11.一种光学系统,用于量测一入射光,其特征在于,该光学系统包含:

一光学头,包含:

一穿透式余弦校正元件,配置于该入射光的一光径上,并将该入射光转换为一散射光;以及

一反射元件,具有至少一光学输出区以及一反光区,该反射元件朝向该穿透式余弦校正元件设置,其中该穿透式余弦校正元件对该入射光遮蔽该反射元件;以及

至少一测光装置,将来自该光学输出区的该散射光转换为电信号。

12.如权利要求11的光学系统,其特征在于,该反射元件具有多个光学输出区。

13.如权利要求12的光学系统,其特征在于,该反射元件的该些光学输出区相对于反射元件的中心轴对称。

14.如权利要求12的光学系统,其特征在于,该反射元件的各该些光学输出区连接至不同的测光装置。

15.如权利要求14的光学系统,其特征在于,该反射元件的该些光学输出区与该些测光装置间通过波导连接。

16.如权利要求11的光学系统,其特征在于,该测光装置为一感光元件。

17.如权利要求11的光学系统,其特征在于,该测光装置包含:

一分光元件,来自该光学头的该散射光射入该分光元件,并被该分光元件转换为一分色光;以及

一感光元件,将来自该分光元件的该分色光转换为一电信号。

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