[发明专利]应用于触控面板的基线校准方法及其系统

说明书

技术领域

本发明提供一种基线校准方法，特别是涉及一种应用于触控面板的基线校准方法及其系统。

背景技术

由于近年来触控感应的相关技术的大幅提升，且其在使用上具有极大的便利性，各式各样的触控感应技术已被广泛的应用于各种不同的电子产品中。其中，触控面板即因为具有体积小、成本低、消耗功率低以及使用寿命长的优点，而被广泛的应用在各式各样的电子产品上。

在触控面板的制程中，有部分触控面板会将压力传感器直接内嵌于触控面板之内，以有效降低制造成本及达成将触控面板轻薄化的目标。然而，由于制程中可能发生的元件特性漂移等无法预测的因素，触控面板的成品中所内嵌的这些压力传感器有可能会在使用者并未做出任何有效触发动作的情况下感测到不应存在的按压点，也即所谓的初始按压点（Initial Touch Point），而影响到操作触控面板的准确度，且随着触控面板的面积增加，上述问题会更为急剧的恶化。另一方面，在触控面板的感测通道之间，通常彼此存在着不匹配的情况。其也影响触控面板在使用者未做出任何有效触发动作时，各个感测通道所感测接收到的初始按压点的值有所差异，同样会造成触控面板的准确度，并引起使用者的不便。

因此，如何解决触控面板上初始按压点的校正，是影响触控面板能否正确使用以及精准判别使用者动作的重要因素之一。

发明内容

本发明实施例在于提供一种应用于触控面板的基线校准方法，包括：通过第一轴向计算程序计算出每一传输电极上的第一差值；接着，通过第二轴向计算程序计算出每一感测电极上的第二差值；以及将各第二差值与各第一差值计算取得基线校正值（calibration value）。

本发明实施例在于提供一种应用于触控面板的基线校准系统，基线校准系统包括触控面板与基线校正单元。基线校正单元耦接于触控面板。其中基线校正单元通过第一轴向计算程序计算出每一传输电极上的第一差值；接着，通过第二轴向计算程序计算出每一感测电极上的第二差值；以及基线校正单元将各第二差值与各第一差值计算取得基线校正值。

综上所述，触控面板的制造者可以通过本发明所提供的基线校准方法或系统，利用基线校正单元对原本触控面板上因制程或者感测通道之间的不匹配，造成整体使用者在使用触控面板的判断上准确度下降。利用对第一轴向上的交越点做第一次校正，再参照第一轴向的校正结果对第二轴向上的交越点做第二次的校正方式，消除各轴向的不平整度，进而达到整体触控面板的梯度趋近一致，提高使用者在使用时的判断精准度。更值得一提的是，其中以第一轴向与第二轴向的方式进行交越点的校正，进一步可省下N²-2N的硬件需求。

为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此等说明与所附图式仅是用来说明本发明，而非对本发明的权利要求范围作任何的限制。

附图说明

图1为本发明实施例的基线校准系统的示意图；

图2为本发明实施例的触控面板示意图；

图3为本发明实施例的基线校准方法流程图；

图4为本发明实施例的另一基线校准方法流程图；

图5为本发明实施例的再一基线校准方法流程图。

【符号说明】

1：基线校准系统

11：触控面板

12：检测前端器

13：基线校正单元

14：运算单元

P_1,1、P_1,2：交越点

TX₁～TX₇：传输电极

RX₁～RX₁₃：感测电极

G₁、G₂：群组

S101～S104、S201～S209、S301～S311为方法步骤

具体实施方式

在下文将参看随附图式更充分地描述各种例示性实施例，在随附图式中展示一些例示性实施例。然而，本发明概念可能以许多不同形式来体现，且不应解释为限于本文中所阐述的例示性实施例。确切而言，提供此等例示性实施例使得本发明将为详尽且完整，且将向熟习此项技术者充分传达本发明概念的范畴。在诸图式中，可为了清楚而夸示层及区的大小及相对大小。类似数字始终指示类似元件。