[发明专利]使用光学相干层析成像法的成像设备和成像方法有效

专利信息
申请号: 201310330277.6 申请日: 2009-07-06
公开(公告)号: CN103393399A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 末平信人 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: A61B3/10 分类号: A61B3/10;A61B3/12;A61B5/00;G01N21/47
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 杨国权
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 使用 光学 相干 层析 成像 设备 方法
【说明书】:

本分案申请是基于申请号为200980126043.1(国际申请号为PCT/JP2009/062642),申请日为2009年7月6日,发明名称为“使用光学相干层析成像法的成像设备和成像方法”的中国专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及使用光学相干层析成像法的成像设备和成像方法,特别涉及用于使用光学相干层析成像法来观察眼睛和皮肤的成像设备和成像方法。

背景技术

利用低相干光的相干性的使用光学相干层析成像法(OCT)的成像设备(在下文中称为OCT设备)已经被投入实际使用。成像设备可以获得具有入射在物体上的光的波长量级的分辨率的层析图像,其使得能够提供待检测物体的高分辨率的层析图像。

来自光源的光被例如分束器的分割光路分割成测量光和参考光。首先利用测量光通过测量光路来照射诸如眼睛的待检测物体。然后将从待检测物体返回的光通过检测光路引导到检测位置。术语“返回光”指的是包括与在用光照射待检测物体的方向中的界面有关的信息的反射光和散射光。参考光通过参考光路而被参考反射镜反射,从而将反射光引导到检测位置。用检测器对返回光和参考光的相干光的检测和分析提供了待检测物体的层析图像。

日本专利申请公开No.H11-325849公开了一种OCT配置,在其中在测量待检测物体的一个点中参考反射镜的位置不连续地改变三次以便获得波长谱,并且随后该谱的计算提供了层析图像。

此外,在A.F.Fercher、C.K.Hitzenberger、G.Kamp、S.Y.El-Zaiat的Opt.Commun.117,43-48,(1995)的论文中,公开了一种傅里叶域(Fourier-Domain)的OCT设备(在下文中称为FD-OCT设备),在其中用固定的OCT设备的参考反射镜获得波长谱,并且通过傅里叶变换测量层析照片(tomogram)。FD-OCT设备包括使用分光器的系统(SD-OCT:谱域OCT)和扫描光源的波长的系统(SS-OCT:源扫描OCT)。

发明内容

与能够在深度方向上共同地获得层析图像的FD-OCT设备相比,在日本专利申请公开No.H11-325849中公开的OCT设备要求更多的时间来执行测量,因为该OCT设备移动参考反射镜。

另一方面,FD-OCT设备可以在深度方向上共同获得层析图像中使用固定的参考反射镜。然而,在参考光和返回光的合成光中包括作为噪声的参考光和返回光的自相关成分。

为了避免这个,位于光学上等效的位置中的参考反射镜可以远离待检测物体以便与这些成分分离。同样为了避免这个,相干门(coherence gate)可以远离待检测物体以便与那些成分分离。

然而,位于光学上等效的位置中的远离物体的参考反射镜有时降低测量灵敏度(传感器的灵敏度),并且需要从合成光中去除参考光和返回光的自相关成分以便执行高精度测量。特别地,返回光的自相关成分随着待测量的位置而变化,使得需要顺序地获得返回光的自相关成分以便将其从合成光中去除。

鉴于以上问题已经作出本发明,并且本发明的目的是提供以下面方式配置的光学层析成像设备和对光学层析图像进行成像的方法。

根据本发明,提供了一种光学层析成像设备,其将来自光源的光分割成测量光和参考光,将测量光引导通过测量光路到待检测物体并且将参考光引导通过参考光路到参考反射镜,并且使用基于由待检测物体反射或散射的测量光的返回光、由参考反射镜反射的参考光以及基于返回光和参考光的合成光来对待检测物体的层析图像进行成像,该光学层析成像设备包括:用于控制布置在测量光路和参考光路中的每一个中的光的透射率的单元;控制单元,用于基于设定的分布(profile)来控制用于控制光的透射率的单元中的光的透射率的改变的时间间隔;用于获得通过基于分布的时间间隔的控制而获得的并且基于来自光源的光的返回光、参考光和合成光中的每一个的波长谱数据的单元;以及计算单元,在其中获得的返回光、参考光和合成光的波长谱数据被用来至少计算光学成分中的任何一个。

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