[发明专利]基于非参数多元统计过程控制的叶身型面加工误差控制方法有效
申请号: | 201310080211.6 | 申请日: | 2013-03-13 |
公开(公告)号: | CN103197598A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 陈冰;张定华;王佩;李山;杨青龙;任静波 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G05B19/19 | 分类号: | G05B19/19 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 王鲜凯 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 参数 多元 统计 过程 控制 叶身型面 加工 误差 方法 | ||
1.一种基于非参数多元统计过程控制的叶身型面加工误差控制方法,其特征在于包括以下步骤:
按照叶身的变形和变公差要求,对截面线进行分段;
定义工件的测量坐标系Om-xmymzm,工件坐标系Ow-xwywzw,将各截面线的测量数据从工件的测量坐标系Om-xmymzm转换到工件坐标系Ow-xwywzw下;定位变换定义为测量坐标系到工件坐标系的刚体旋转变换和平移变换(R,t),其变换参数为x=(α,β,γ,Δx,Δy,Δz)T;其中,α、β、γ分别为绕xw、yw、zw坐标轴的旋转分量,Δx、Δy、Δz分别为沿xw、yw、zw坐标轴方向的平移分量;
旋转矩阵R的定义:
R=Rz(γ)·Ry(β)·Rx(α)
平移变换由平移矢量t定义:
t=(Δx,Δy,Δz)T (2)
Ow-xwywzw
设测量坐标系中的测量点集合为P={pi|i=1, …N},对其作定位变换:
pi′=R(x)·pi+t(x) (3)
得到工件坐标系内的测量点集合P′={pi′|i=1,…,N};
对工件设计表面进行等精度离散,先以小参数步长对设计截面线进行密集采样,然后再校核各离散段内的实际逼近误差,并将不必要的离散设计点删除,使得所剩下的各采样点的逼近误差近似相等;设r0,...,rk,rk+1,rk+2,rk+3,...,rm,rm+1,...,rn为一系列设计点,ε为给定的允许逼近误差,对于任一初始点rk,rk到rm之间的任一点ri,求取它到直线段rkrm的距离:
若满足Di<ε,则连接rk到rm两点的线段来逼近对应的设计曲线段时,其逼近误差小于允许值,此时应继续选取rm的下一点rm+1,重复上述过程,一直到存在一点ri,它到直线段rkrm的距离满足Di>ε;rm-1点予以保留,而rk到rm-1之间的所有设计点均舍去;对于整条曲线,将rm-1点作为新的初始点并重复上述过程;
在工件设计表面上寻找等精度离散后,在工件设计表面上寻找测量点集合pi'={pi'|i=1,...,N}的对应点集合Qi={qi|i=1,...,N},qi为工件设计表面上与pi'对应的最近点;设工件设计表面在qi点的单位法矢为ni,δ≥0为工件加工表面余量,则通过下列等距变换:
qi’=qi+δ·ni (5)
得到与工件设计表面点集合Q等距的加工表面点集合Qi'={qi'|i=1,...,N};
根据工件坐标系内的对应点pi’和qi’,定义法向距离函数:
di(x)=(pi’-qi’)·ni=((R(x)·pi+t(x))-qi)·ni-δ (6)
所有di(x),i=1,...,N组合即为轮廓误差,建立起叶身的轮廓和弯扭变形的质量控制矩阵;
将所有n个轮廓曲线的剩余设计点即型值点储在一个矩阵中,这个矩阵由n个行向量组成,每个向量还有v*p个型值点,v表示每个曲线段的型值点的个数,p表示每个轮廓曲线分成的段数;计算每个截面曲线和目标曲线的平均差异;
其中||d||表示d的欧氏距离,dijk表示第i个轮廓的第j个曲线段的第k个型值点的测量值,d0ijk表示第i个轮廓的第j个曲线段的第k个型值点的设计值;对于每一条轮廓曲线而言,最终的均值向量Zi对每一段定义为Zi=[D1,D2,...,Dp]T,i=1,2,…,n;
收集受控的截面线,对其均值和方差进行估计,得到对应的曲线段的统计参数,计算统计量和控制限,建立MEWMA控制图;统计量的计算:
Wi=λZi+(1-λ)Wi-1i=1,2,...,n (8)
其中W0是P维初始向量,取值为Zi,0<λ≤1是权参数,多元控制图在下报警,L>0是根据可控平均运行长度而定的控制限;Σ是协防差矩阵,通过以下估计:
其中,
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