[实用新型]用于检测产品内长内宽尺寸的工具有效
申请号: | 201220694200.8 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN203069142U | 公开(公告)日: | 2013-07-17 |
发明(设计)人: | 陈志勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市智信精密仪器有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 | 代理人: | 张秋红;张约宗 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区西乡*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 产品 内长内宽 尺寸 工具 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检测工具,尤其涉及一种用于检测产品内长内宽尺寸的工具。
背景技术
随着电子产品工业与机械制造行业的不断发展,对产品的工件尺寸测量需求不断增长,因此,为了确保产品的质量,对产品的工件尺寸检测变得尤为重要,对产品的内部安装尺寸控制也变得越来越严谨。
现有技术中,检测工件的内长内宽的技术手段及工具少之又少,并检测的精度也不高。如图1示出了一种传统人工检测工件内长内宽的方法:采用游标卡尺测量的方法。该方法仅仅是依靠人手动操作,并且通过人的眼睛和手的感觉来判断检测的尺寸是否正确,由于在实际操作时,受人为的因素和检测工具的影响比较多,因此其检测精度不高,使得测量的误判率居高不下。对于尺寸要求严格的工件来说,此方法并不适用。图2示出了另一种检测工件内长内宽尺寸的方法:通过光学测量仪器测量的方法,此方法的光源照射方式是垂直照射,光源的照射方向与光学测量仪器拍摄方向一致,一方面对被测工件的成像效果不好,另一方面,很多工件都有倒角,易出现误判,如图2所示,工件内宽实际尺寸为B尺寸,而由于光线照射范围太大,测量仪器照射得到是A尺寸,从而影响测量精度。再者,此方法同样受人为因素的影响较大,也影响到测量精度。
图1和图2的检测方法存在人工费的成本高、效率低、精度不高等缺点。因此需要一种检测工件内长内宽尺寸精度高、效率高的检测工具以及测量方法。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题在于,针对现有技术成本高、效率低、精度不高的缺陷,提供一种测量方便、精度高、测量效率高的用于检测产品内长内宽尺寸的工具。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种用于检测产品内长内宽尺寸的工具,包括用于固定被测工件的夹具、用于遮蔽与被测壁面相邻的壁面的遮蔽件、用于照射被测工件的被测壁面边缘的光源组件、用于测量被测工件内长内宽的测量机构,所述遮蔽件、光源组件固定在夹具上,所述测量机构通过位置调节机构调节与被测工件的相对位置。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述夹具包括支撑框体,在所述支撑框体上设置有对被测工件进行定位的定位件和与定位件配合将被测工件夹紧固定的夹紧机构。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述支撑框体上开设操作口,多个所述定位件分别分布在靠近操作口的支撑框体上,所有的所述定位件与夹紧机构配合对被测工件形成均匀夹持,所述遮蔽件对应设置在操作口内。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述夹紧机构包括固定在支撑框体上的夹紧固定件、限位在夹紧固定件上运动的顶压头,所述顶压头后部设有驱动顶压头前伸压紧被测工件或后退松开被测工件的驱动件。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述光源组件在支撑框体底面上固定多个,且所述光源组件的出光口位置满足:出光口的轴向分别与被测工件的被测壁面的水平夹角为5~60°,且从出光口发出的光线将被测工件的被测壁面边缘照亮。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述光源组件包括灯壳,所述灯壳内设置LED光源,所述出光口设置在朝向被测工件的被测壁面边缘的灯壳上。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述遮蔽件延伸至被测工件内腔中且遮蔽与被测壁面相邻的壁面。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述测量机构包括三个测量器,三个所述测量器呈L形排布,相邻测量器之间的间距与被测工件的待测的内长或内宽相配合。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述位置调节机构包括相互垂直的两条滑轨,用于固定测量器的移动架,所述移动架滑动配合在滑轨上。
所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具中,所述用于检测产品内长内宽尺寸的工具还包括机架,所述夹具和位置调节机构都固定在机架上。
本实用新型中采用夹具将被测工件夹紧,被测工件处于一个稳定的位置,便于准确进行测量。遮蔽件将被测工件的被测壁面的相邻壁面遮蔽,光源组件只将被测壁面的边缘被照亮,给测量机构提供了更准确的测量位置,使得测量机构针对被测壁面的边缘进行测量,更准确、测量精度更高。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明,附图中:
图1是现有技术人工测量所用的游标卡尺结构示意图;
图2是现有技术利用发光元件照射测量示意图;
图3是本实用新型实施例的结构俯视图;
图4是图3的A-A剖视图;
图5是本实用新型实施例的滑轨和测量器之间的结构示意图;
图6是本实用新型实施例的光源组件与被测工件相互位置关系的结构示意图。
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