[实用新型]一种反应堆保护系统定期试验中驱动器试验装置有效
申请号: | 201220237489.0 | 申请日: | 2012-05-24 |
公开(公告)号: | CN202736505U | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 许东芳;周继翔;肖鹏;冯威 | 申请(专利权)人: | 中国核动力研究设计院 |
主分类号: | G21C17/00 | 分类号: | G21C17/00 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 高尚梅 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 反应堆 保护 系统 定期 试验 驱动器 试验装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种驱动器试验装置,特别是涉及一种反应堆保护系统定期试验中驱动器试验装置。
背景技术
反应堆保护系统是核电厂重要的安全系统,为了确保系统的功能可靠执行,必须定期对系统进行试验,这些定期试验包括测量通道的试验、逻辑通道的试验以及驱动器的试验。
其中驱动器的试验是用于检查反应堆保护系统输出线路及部分执行机构(即驱动器)的性能。根据试验信号是否触发执行机构动作,分为“闭锁型”和“非闭锁型”两类。闭锁型试验主要针对那些不能设计成在电厂运行期间进行试验的最终驱动设备,采用串接电阻检查电压或并接电阻检查电流的方法,对输出线路进行电气连续性检查。一般是通过“选择开关”选择试验对象,再由对应的“试验开关”注入试验信号,然后通过电压表或电流表的读数来检查逻辑/输出线路以及输出继电器的功能是否正常。现有的针对试验设备驱动器1和驱动器2的试验装置对试验设备驱动器1和驱动器2的试验,是通过同一个试验开关、逻辑/输出线路和选择开关来实现的。该试验装置结构简单,但是试验对象未一一对应,一个试验开关被用于多个输出设备的试验,即多个输出设备共用了相同的试验开关和逻辑/输出线路。这样可能存在一定的风险:当驱动器1进行试验时,未做试验的驱动器2在有真实的驱动信号送过来时会拒动;或者当逻辑/输出线路故障,会导致驱动器1和驱动器2误动作。即其中一个输出设备进行试验时,会造成与之关联的其他输出设备拒动或可能误动。另外,在进行维修处理时,在处理驱动器1的线路故障时,有可能导致驱动器2的误动作。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种反应堆保护系统定期试验中驱动器试验装置,可以克服现有驱动器试验装置中不同驱动器设备的拒动和误动,提高测试驱动器线路及驱动器的可靠性。
为解决上述技术问题,本实用新型一种反应堆保护系统定期试验中驱动器试验装置,包括选择开关、试验开关1、试验开关2、试验设备驱动器1、试验设备驱动器2以及检测支路,其中,检测支路由电阻和电流表串联组成,选择开关可选择控制检测支路并联入试验设备驱动器1或试验设备驱动器2,试验开关1通过逻辑/输出线路1控制试验设备驱动器1的模式状态,从而通过并联的检测支路来检测判断逻辑/输出线路1与试验设备驱动器1的完整性;同理,试验开关2通过逻辑/输出线路2控制试验设备驱动器2的模式状态,从而通过并联的检测支路来检测判断逻辑/输出线路2与试验设备驱动器2的完整性。
所述的逻辑/输出线路1或逻辑/输出线路2具体包括逻辑或门电路、放大器和继电器,其中,试验开关1或试验开关2中P5拨档控制的两个开关接点分别与真实信号通路和试验信号通过逻辑或门电路,接入放大器,放大器与继电器相连接,并控制试验设备驱动器1或试验设备驱动器2模式状态的选择。
所述的试验设备驱动器1或试验设备驱动器2包括第一支路和第二支路,其中,第一支路由试验开关1或试验开关2中拨档P3、P5、P7控制的开关接点C/P3-P7与第一电阻串联组成,第二支路由逻辑/输出线路1中继电器控制的开关接点与第二电阻串联组成,且检测支路与第二电阻并联,试验设备驱动器1或试验设备驱动器2中的第一支路和第二支路并联后,与输出设备驱动器1或输出设备驱动器2串联。
所述试验开关1或试验开关2为四档拨档旋转开关,包括P1档、P3档、P5档和P7档。
本实用新型效果为:本实用新型所述的一种反应堆保护系统定期试验中驱动器试验装置中,一个试验开关只能单独试验一个输出设备驱动器,这样减小了设备的误动和拒动概率,提高了设备的可维修性,有效地降低了驱动器试验和维修带来的风险。
附图说明
图1为本实用新型所提供的一种反应堆保护系统定期试验中驱动器试验装置模块结构示意图;
图2为图1的原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1所示,一种反应堆保护系统定期试验中驱动器试验装置包括选择开关、试验开关1、逻辑/输出线路1、试验开关2、逻辑/输出线路2以及检测支路,其中,检测支路由电阻和电流表串联组成,选择开关可选择控制检测支路并联入试验设备驱动器1或试验设备驱动器2,试验开关1通过逻辑/输出线路1控制试验设备驱动器1的模式状态,从而通过并联的检测支路来检测判断逻辑/输出线路1与试验设备驱动器1是否完好;同理,试验开关2通过逻辑/输出线路2控制试验设备驱动器2的模式状态,从而通过并联的检测支路来检测判断逻辑/输出线路2与试验设备驱动器2是否完好。
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