[实用新型]弹簧探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及外加簧探针技术领域，具体涉及一种用于电子元件测量的高可靠性的弹簧探针。

背景技术

现有电子元件测量用的探针主要由腔体、顶针和弹簧组成。腔体为金属套筒，一端向内卷边；顶针由探针头和金属杆径向相连组成，金属杆自由端向外凸起；顶针的金属杆自由端置于腔体内，外凸起部分卡于腔体内卷边处。弹簧置于腔体内，两端均为自由端，为顶针提供稳定的弹力。该探针在使用过程中，如果液体和粉尘进入腔体内或弹簧发生氧化，会造成弹性降低和电气接触性不良。与本实用新型相近的是田治峰、贺涛等人的实用新型专利《一种弹簧探针》，该专利能确保探针在严苛的环境下稳定工作，避免受粉尘或液体的影响，但并未解决由于内部弹簧氧化造成的弹性不稳定和接触不良。

实用新型内容

本实用新型的目的是提出一种弹簧探针，能够稳定可靠的工作，解决弹簧探针由于污染和氧化等原因造成内部弹簧的弹性不稳定和电气接触不良。

为了达到上述设计目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种弹簧探针，包括腔体、顶针和外弹簧，所述顶针的金属杆一端套固在腔体一端，金属杆另一端连接探针头，所述金属杆设置在腔体外的部分套接外弹簧，外弹簧的两端分别焊接在探针头和腔体的端头上，使腔体与顶针相连形成一体。

优选地，所述腔体为金属套筒，腔体套接金属杆的一端向内卷边。

优选地，所述金属杆套接腔体的一端向外凸起。

更优选地，所述金属杆的凸起卡套在腔体的卷边内。

更优选地，所述金属杆和探针头径向相连。

本实用新型所述的弹簧探针的有益效果是：结构设计简单、合理，解决了探针由于内部弹簧原因造成的探针电气接触不良，通过外加弹簧的方法增加了探针的可靠性；探针外部的弹簧易于清洗、方便更换、可维护性高。

附图说明

图1为本实用新型所述的弹簧探针的结构示意图。

图中：1、腔体；2、外弹簧；3、金属杆；4、探针头。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的最佳实施方案作进一步的详细的描述。

如图1所示，本实用新型实施例所述的弹簧探针，包括腔体1、顶针和外弹簧2，所述腔体1为金属套筒，一端向内卷边形成卡环；所述顶针由金属杆3和探针头4径向相连组成，金属杆3的自由端向外凸起形成卡扣，所述金属杆3自由端置于腔体1内，且其外凸起部分卡于腔体1的内卷边处；所述外弹簧2套在金属杆3留在腔体1外的部分，外弹簧2的两端分别焊接在探针头4和腔体1的端头上，使腔体1与顶针相连形成一体。

使用时，外弹簧2为顶针提供稳定的弹力并保证顶针与腔体1良好的电气接触。当外弹簧2由于发生氧化，或由于外来液体、粉尘造成污染等原因造成弹性降低和电气性能降低时，可对其进行通过超声波清洗，也可以更换外弹簧，保证顶针与腔体的稳定接触，进而保证探针具有较高的可靠性。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所做的进一步详细说明，便于该技术领域的技术人员能理解和应用本实用新型，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下还可以做出若干简单推演或替换，而不必经过创造性的劳动。因此，本领域技术人员根据本实用新型的揭示，对本实用新型做出的简单改进都应该在本实用新型的保护范围之内。