[发明专利]一种交叉平面电阻抗成像测量装置及方法无效

专利信息
申请号: 201210566200.4 申请日: 2012-12-24
公开(公告)号: CN102973269A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 冉鹏;何为;徐征;李松浓 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: A61B5/053 分类号: A61B5/053
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;85
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 交叉 平面 阻抗 成像 测量 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及电阻抗测量中的接触及测量装置,特别涉及一种对人体器官组织的电阻抗成像测量装置及方法。

背景技术

电阻抗成像是一种只需在物体表面进行测量,而重构出内部阻抗分布的手段。它通过注入电流到一个目标区域建立电场,随后对目标周边产生的电压进行测量。传统的电阻抗断层成像技术中,电极的放置通常局限于某个平面,然而,电阻抗成像本质上是一个三维问题,其电流不局限于在某个平面上流动,因此,二维图像重建通常会产生伪像。而三维电阻抗成像的主要问题是:系统无法负担复杂的算法,病态性使得算法有时难以实现,尤其是在边缘区域,最终造成重建图像中目标位置难以判断或形状扭曲。开放式电阻抗成像系统能够很好地实现物体的表层阻抗判定,但是受制于探测深度的因素,精度只能保证在2~3厘米的范围内。为此开发的交叉平面电极阵列系统,通过交错的二维平面测量数据,能够更有效地构建三维成像模型,并在保证有效精度的前提下减小了直接三维重构的计算量。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的上述问题,本发明所要解决的技术问题是提供一种,提供一种用于获取物体表面由装置激励电流而引起的电压,从而推导出物体内部的三维电阻抗信息的装置及方法。该方案从水平切面及垂直剖面上均可获取电压信息,分别进行切面上的成像,进而组合形成空间三维图形;也可以通过对任意接触点进行激励,获取其余任意位置间电压,进而实现多种组合测量方式,实现多元算法拓展,提高图像精度。

本发明的目的之一是提出一种交叉平面电阻抗成像测量装置;本发明的目的之二是提出一种交叉平面电阻抗成像测量方法。

本发明的目的之一是通过以下技术方案来实现的:

本发明提供的一种交叉平面电阻抗成像测量装置,包括框体、分布在框体上的测量单元和输出单元,所述测量单元为分散设置于框体上用于获取被测物体表面在激励电流作用下而引起的电压信号的测量电极,所述测量电极将获取的电压信号输入到输出单元。

进一步,所述框体为半球体,所述测量电极等间距环状地分布在半球体框体上,所述框体顶部中央设置有共用电极,所述共用电极与输出单元连接;

进一步,所述测量电极沿框体的纵向切面对称分布形成竖直电极组,所述测量电极沿半球体的纵向切面设置2-8组竖直电极组。

进一步,所述测量电极沿框体的水平切面对称分布形成水平电极层,所述测量电极沿框体水平设置2-10层水平电极层。

进一步,还包括中央控制处理器和成像系统,

所述中央控制处理器,用于接收并处理电压信号通过三维重构算法来得到被测物体内部的电阻抗分布;

所述成像系统,用于输出被测物体内部的电阻抗分布信息。

进一步,所述中央控制处理器包括激励源控制单元、数字频率合成单元、多路复用控制单元、高速相敏检波单元、快速傅立叶变换解调测量信号单元;

所述运算处理系统包括激励源控制单元,用于通过相位累加器产生数字正弦信号;

所述数字频率合成单元,用于将不同频率的数字正弦信号进行合成,通过注入合成后的电信号能够提高测量效率,增加获取的电阻抗信息;

所述多路复用控制单元,用于对激励信号的注入位置及电压采集点进行控制;

所述高速相敏检波单元,用于将采集到电压信号的幅值和相位进行分离与测量;

所述快速傅立叶变换解调测量信号单元,用于将的到的电压信号通过抽样截断,将时间信号转化为离散序列,以得到信号的频域特性;

进一步,还包括开关阵列,所述激励源控制单元通过开关阵列与测量单元连接。

本发明的目的之二是通过以下技术方案来实现的:

本发明提供的一种利用交叉平面电阻抗成像测量装置来进行的电阻抗成像测量方法,包括以下步骤:

S1:输入激励信号;

S2:选择测量方式和激励电极组;

S3:获取相应测量电极间的电压信号并输入到运算处理器进行处理;

S4:根据选择的测量方式,轮换激励电极组,轮换相应测量电极组,依次测得所有信号;

S5:当相应测量方式的所有激励及测量组合完成后,根据所有信号完成被测物体在三维空间上的电阻抗图像重构。

进一步,所述激励信号通过发送指令给中央控制处理器所产生;所述激励信号经过信号预处理电路处理后转换成模拟激励信号再输入到中央控制处理器中。

进一步,所述输入激励信号及测量方式采用以下三种组合来进行:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学,未经重庆大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210566200.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top