[发明专利]一种薄膜辐射剂量测试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及一种薄膜辐射剂量测试夹具，属于辐射测试领域。

背景技术

薄膜辐射剂量计可用来测量粒子，伽马，电子束，X射线等辐射剂量，在辐射领域具有广泛应用。在航天器设计领域，由于电子器件、材料在空间辐射环境中的电离总剂量效应地面评估考核中采用的是剂量等效原理，因此，剂量测试的精度影响空间电离总剂量效应地面评估考核精度。

薄膜辐射剂量计常见尺寸为1厘米宽、几十微米厚的方形薄膜片。根据薄膜辐射剂量计在辐照场中接收的剂量与薄膜辐射剂量计吸光度的变化一一对应的关系，可以测试材料器件在辐照场中吸收的剂量，因此薄膜辐射剂量计的吸光度测试精度直接影响剂量计的测试精度。

薄膜辐射剂量计的吸光度采用分光光度计上测量，分光光度计的样品基座一般为一个方形深槽，因此薄膜辐射剂量计测试时需要特制的夹具，将其固定在方形深槽中。目前薄膜辐射剂量计测试夹具多采用弹簧夹型，这种方法的缺陷是：由于夹具两片夹面的相对位置可活动，在不同次测量时夹具相对位置不固定，造成测试夹具多次测量的一致性较差。

发明内容

本发明提供了一种薄膜辐射剂量测试夹具，所述夹具将薄膜辐射剂量计安装在狭缝中，克服了由于夹具在不同次测试时相对位置移动造成的误差，有利于提高薄膜辐射剂量计吸光度测试精度。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种薄膜辐射剂量测试夹具，所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面；所述夹具尺寸与分光光度计的样品槽相匹配；

在夹具内取与E、F面平行的平面S，所述S面位于夹具高度的1/2~1/3位置，S面与A、B、C、D面分别交于a、b、c、d线；以S面的中心为原点O设空间直角坐标系，所述坐标系的x轴与A面垂直，y轴与D面垂直，z轴与E面垂直，以原点O到A面的方向为x轴的正方向，以原点O到D面的方向为y轴的正方向，以原点O到E面的方向为z轴的正方向，反之为负方向；

在所述夹具的A面上沿x轴负方向开有沉孔H，在所述夹具的C面上沿x轴正方向开有沉孔G；所述沉孔G与沉孔H同轴，轴线与x轴重合；沉孔H的内径大于沉孔G的内径，且沉孔H的长度大于沉孔G的长度；

在沉孔G底端沿y轴方向开有贯穿BD面的薄膜加持狭缝，所述狭缝分别与沉孔G和沉孔H贯通；在所述狭缝的B面端部开有夹装凹槽，用于将薄膜辐射剂量计放置在薄膜加持狭缝中。

优选所述夹具长、宽均为1.2cm（即为E、F面的边长），夹具高度至少比分光光度计的样品槽深度大于1cm；沉孔H的内径为8mm，沉孔G的内径为5mm；薄膜夹持狭缝沿z轴方向的高度为1.2cm，沿x轴方向的宽度为1mm；夹装凹槽沿z轴方向的高度为1.2cm，沿y轴方向的长度为4mm。

使用时将薄膜辐射剂量计从夹装凹槽中塞入到薄膜加持狭缝中，将薄膜辐射剂量计固定在薄膜加持狭缝中；光路通过沉孔H射入后，从沉孔G中射出。

有益效果

本发明将薄膜辐射剂量计安装在狭缝中，克服了由于夹具不同次测试时相对位置移动造成的误差，同时薄膜辐射剂量计在夹具中不受过大的加持力，处于自然延展状态，更有利于提高测试精度。

附图说明

图1为本发明所述的薄膜辐射剂量测试夹具的正视图；

图2为在图1所示正视图上设立的空间直角坐标系；

图3为本发明所述的薄膜辐射剂量测试夹具的左视图；

图4为本发明所述的薄膜辐射剂量测试夹具的俯视图；

图5为本发明所述的薄膜辐射剂量测试夹具与弹簧夹型夹具测试结果比较；

图6为薄膜辐射剂量计类型，左为全透型，右为中孔型。

其中，1-沉孔G、2-沉孔H、3-薄膜夹持狭缝、4-夹装凹槽。

具体实施方式

下面通过实施例，对本发明作进一步说明。

如图1所示，用硬铝材料制成薄膜辐射剂量计测试夹具，所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面；所述夹具尺寸与分光光度计的样品槽相匹配；