[发明专利]一种独立型准分布式光纤传感装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光纤传感装置，尤其是涉及一种独立分支型、基于后向反射光弯曲损耗变化的独立型准分布式光纤传感装置。

背景技术

现有的基于微弯或弯曲损耗变化的准分布式光纤传感装置是采用一根光纤作为通道来完成测试系统的构建的，其优点是结构简单、成本低，但其缺点是一旦光纤在有微弯或弯曲处出现断裂，则整个系统的使用就会被影响，由于作为以微弯或弯曲损耗为原理的光纤传感器有部分传感光纤始终处于弯曲状态，这就会对整个测试装置带来隐患。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术中的不足，提供一种独立型准分布式光纤传感装置，其结构简单、设计合理且使用效果好，能有效解决现有技术中采用一根光纤作为通道来完成测试系统构建存在一旦光纤在有微弯或弯曲处出现断裂则整个系统的使用就会被影响的问题，同时重量轻，成本低，处于弯曲状态的传感光纤位于独立的分支状态，其中一个分支光纤出现问题并不会影响到测试装置的其他部分，从而使该光纤传感装置具有较强的实际生存能力。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种独立型准分布式光纤传感装置，其特征在于：包括光纤、1X2耦合器、分支光纤、测试装置、光反射装置和光纤微弯传感器，所述1X2耦合器的数量为多个且多个所述1X2耦合器均匀安装在光纤上，所述分支光纤的数量与1X2耦合器的数量相等且均为多个，每个所述1X2耦合器均与一根分支光纤的一端连接；所述1X2耦合器的1口通过光纤与测试装置连接，所述1X2耦合器的2口的其中一个与分支光纤的一端连接，所述光反射装置安装在分支光纤的另一端，所述光纤微弯传感器安装在分支光纤上，所述1X2耦合器的分光比为1:99且分光比少的端口与分支光纤连接，所述光反射装置为镜子，所述测试装置为光时域反射计或光源-光功率计。

本发明与现有技术相比具有以下优点：

1、本发明结构简单，设计合理，使用效果好。

2、本发明由于分支光纤的末端有反射装置，则光信号在分支光纤末端会形成菲涅尔反射光信号，该光信号反射后进入测试装置，通过探测该菲涅反射信号的变化，就可以知道光纤微弯传感器中处于微弯状态传感光纤的弯曲状态，该弯曲状态又与待测的物理量相关，从而可以确定待测物理量的大小。

3、本发明能有效解决现有技术中采用一根光纤作为通道来完成测试系统构建存在一旦光纤在有微弯或弯曲处出现断裂则整个系统的使用就会被影响的问题，同时重量轻，成本低。

4、本发明当一个分支光纤上的光纤断裂后，并不影响其他分支光纤的功能实现，从而使该整体的光纤传感系统具有较强的实际生存能力。

综上所述，本发明光纤传感装置结构简单、重量轻，成本低，具有较强的实际生存能力。

下面通过附图和实施例，对本发明做进一步的详细描述。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

附图标记说明:

1—光纤；        2—分支光纤；    3—1X2耦合器；

4—光反射装置；  5—测试装置；    6—光纤微弯传感器。

具体实施方式

如图1所示，本发明包括光纤1、1X2耦合器3、分支光纤2、测试装置5、光反射装置4和光纤微弯传感器6，所述1X2耦合器3的数量为多个且多个所述1X2耦合器3均匀安装在光纤1上，所述分支光纤2的数量与1X2耦合器3的数量相等且均为多个，每个所述1X2耦合器3均与一根分支光纤2的一端连接；所述1X2耦合器3的1口通过光纤1与测试装置5连接，所述1X2耦合器3的2口的其中一个与分支光纤2的一端连接，所述光反射装置4安装在分支光纤2的另一端，所述光纤微弯传感器6安装在分支光纤2上，所述1X2耦合器3的分光比为1:99且分光比少的端口与分支光纤2连接，所述光反射装置4为镜子，所述测试装置5为光时域反射计或光源-光功率计。

本发明的工作原理为：由于分支光纤2的末端有光反射装置4，则光信号在分支光纤2的末端会形成菲涅尔反射光信号，该光信号反射后进入测试装置5，通过探测该菲涅反射信号的变化，就可以知道光纤微弯传感器6中处于微弯状态传感光纤的弯曲状态，该弯曲状态又与待测的物理量相关，从而可以确定待测物理量的大小。另外，当一个分支光纤2上的光纤断裂后，并不影响其他分支光纤2的功能实现，从而使该整体的光纤传感系统具有较强的实际生存能力。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明作任何限制，凡是根据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变换，均仍属于本发明技术方案的保护范围内。