[发明专利]基于GPU编程的红外反射特性仿真方法有效

专利信息
申请号: 201210415035.2 申请日: 2012-10-25
公开(公告)号: CN102968521A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 黄曦;张建奇;杨倩;刘德连;何国经;王晓蕊 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G06T17/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 gpu 编程 红外 反射 特性 仿真 方法
【权利要求书】:

1.一种基于GPU编程的红外反射特性仿真方法,包括如下步骤:

(1)用大气辐射传输计算软件Atmosphere获得后缀为压缩纹理图像格式DDS的太阳直射辐射纹理D、天空背景辐射纹理S、大气路径辐射纹理L和大气透过率纹理T;

(2)通过实验或测量仪器测量,获得计算BRDF需要的所有材质参数M;

(3)利用材质参数M,根据简化的Schlick BRDF反射模型,计算不同角度下不同像素点对太阳直射辐射的反射量E1

(4)利用材质参数M,根据简化的Schlick BRDF反射模型,计算不同角度下不同像素点对天空背景辐射的反射量E2

(5)利用图形编程语言Cg将太阳直射辐射纹理D、天空背景辐射纹理S、大气路径辐射纹理L、大气透过率纹理T写入材质脚本的纹理单元中,在片段程序中利用太阳直射辐射的反射量E1和天空背景辐射的反射量E2,生成能仿真红外反射效应的材质脚本;

(6)通过可编程图形处理单元GPU完成材质脚本的解析和编译并载入显存中,形成可编程图形处理单元GPU的执行代码,利用这些代码实时模拟红外反射效应。

2.根据权利要求1所述的红外反射特性仿真方法,其中步骤(2)所述的通过实验或测量仪器测量,获得计算BRDF需要的所有材质参数M,按照如下步骤进行:

2a)通过实验或测量仪器测量,确定材质的波段反射率粗糙因子r和各向同性因子p这些不同类型材质的参数,并将这些不同类型材质的参数存储成一张DDS格式的二维纹理;

2b)根据物体的材质类型,对二维纹理进行采样,得到计算BRDF需要的所有材质参数M。

3.根据权利要求1所述的红外反射特性仿真方法,其中步骤(3)所述的利用材质参数M,根据简化的Schlick BRDF反射模型,计算不同角度下不同像素点对太阳直射辐射的反射量E1,按照如下公式计算:

E1(t,v,v,w)=ρλ1-λ2D(t,v,v,w)Esv,]]>

其中,为波段λ12内的波段反射率,Es为材质表面处迎着太阳方向上太阳直射辐射的辐照度,v=cos(θ),v′=cos(θ′),t=cos(α),θ为太阳入射光线与材质表面法线的夹角,θ′为视点方向与材质表面法线的夹角,α为材质表面法线与半角向量的夹角,为材质表面的切向量与半角向量在平面内的投影向量的夹角,

D(t,v,v′,w)为方向特征因子,其公式如下,

D(t,v,v,w)=1-G(v)G(v)πA(w)+G(v)G(v)4πvvZ(t)A(w),]]>

其中,

Z(t)=r(1+rt2-t2)2,]]>

A(w)=pp2-p2w2+w2,]]>

G(v)=vr-rv+v,]]>

G(v)vr-rv+v,]]>

r∈[0,1]为材质的粗糙因子,p∈[0,1]为材质的各向同性因子。

4.根据权利要求1所述的红外反射特性仿真方法,其中步骤(4)所述的利用材质参数M,根据简化的Schlick BRDF反射模型,计算不同角度下不同像素点对天空背景辐射的反射量E2,按照如下公式计算:

E2(θr,φr)=ρλ1-λ20π0π2D(θi,φi,θr,φr)Ls(θi,φi)cosθisinθidθii,]]>

其中,θi为天顶角,为方位角,Lsii)为以天顶角θi、方位角方向观察到的天空背景辐亮度,θi'为天空背景小面元辐射入射光与表面法线的夹角,θr为被观察面法线的天顶角,为被观察面法线的方位角。

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