[发明专利]高防护直动式数显千分尺有效

专利信息
申请号: 201210376727.0 申请日: 2012-09-29
公开(公告)号: CN102853727A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 赵志强;赵飙;钟胜 申请(专利权)人: 钟胜;赵志强;赵飙
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18
代理公司: 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 代理人: 廖世传
地址: 510630 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 防护 直动式数显 千分尺
【说明书】:

(一)技术领域:

发明涉及测量器具,具体说是一种高防护直动式数显千分尺。

(二)背景技术:

现有的直动式数显千分尺,都采用机械校零机构,0~25mm规格的千分尺采用测砧和量杆直接校零,25mm以上规格的千分尺则采用标准量杆较零。由于机械构件的变动,零点可能变动,为了保证千分尺的测量精度,使用前必需校零,长期使用中途也要校零,使用极不方便;同时对传感器的精度要求很高,导致制作成本很高。

(三)发明内容:

针对传统直动式数显千分尺的不足之处,本发明设计了一种具有绝对电器校正零点的高防护直动式数显千分尺。

能够实现上述目的的高防护直动式数显千分尺,包括测量头、推进组件、显示屏和U型尺弓,所述测量头包括测量套筒、测杆、测量传感器的主栅和副栅,所述推进组件包括推进套筒、丝杠和推进转筒,所述推进套筒与测量套筒套接,所述测杆前段滑动配合于测量套筒前端的定位套,所不同的是所述测杆与定位套之间设有千分尺的电器校零机构,所述电器校零机构包括连接于相关电路上的触发器和精密位置开关,所述触发器设于测杆,所述精密位置开关设于定位套,精密位置开关的位置对应于千分尺的机械零点。

本发明可以通过计算机软件对千分尺的全量程误差进行修正。

所述主栅通过主栅座置于测杆上,所述副栅置于主栅移动路径上,并通过安装于测量套筒上的悬伸弹片与主栅之间形成有合理感应间隙的浮动配合。

为防止振动(使用过程中)而造成的精度变化,所述测量套筒上设有使副栅与主栅之间合理感应间隙保持稳定的限位机构,所述限位机构为悬伸的限位弹片,所述限位弹片的悬伸端挡于副栅的背面。

所述测杆的后段支撑有两种方式,配合浮动的副柵机构,能够有效地保证测量传感器在运动过程中的测量精度。

1、所述测杆后段通过两侧联动的平行导向柱滑动支撑在测量套筒后段上下设置的可调节辅助支撑上,且所述定位套对测杆前段有两处相距20mm~60mm的支撑,而获得合理距离上的前、后两主支撑。

2、所述测杆后段通过滑套配合于推进套筒内,测杆中段通过两侧联动的平行导向柱滑动支撑在测量套筒中段上下设置的可调节辅助支撑上。

其中所述两侧导向柱所在面平行于主栅面,所述可调节辅助支撑为对应于两侧导向柱设置的两组上、下相对螺钉,所述导向柱置于对应的上、下螺钉之间,所述各螺钉配合于测量套筒上对应开设的螺纹孔,通过调节上、下螺钉的位置而调节测杆的运动精度。

所述丝杠为大螺距丝杠,所述大螺距丝杠同轴置于推进套筒内,所述推进转筒套装推进套筒并通过棘轮机构连接大螺距丝杠,当大螺距丝杠推进到位时,推进转筒于推进套筒上打滑。

所述大螺距丝杠前端设置以点接触推顶测杆的顶块和回拉测杆的勾套,大螺距丝杠前端的顶块与测杆之间形成点接触的浮动接触,可有效避免大螺距丝杠的运动精度对测杆的影响。

所述顶块安装于将其弹性推出的弹性元件上,所述测杆与U型尺弓的测头采用快速测头,从而实现对批量零件同一部位尺寸的快速检测。

所述测量套筒嵌套于显示屏,测量套筒与显示屏的前、后嵌套段分别设有密封圈,所述推进套筒与推进转筒之间设有密封圈,从而构成千分尺完整的密封体系。

所述测量头、推进组件和显示屏按标准组件制作,分别与不同U型尺弓组装,从而构成各种规格尺寸的千分尺。

所述测量传感器采用电容传感器、或采用相对测量传感器、或采用绝对测量传感器。

本发明的优点:

1、本发明高防护直动式数显千分尺通过设置电器校零机构对测量传感器的误差进行修正,千分尺在每次开机前必须得到绝对电器零点的信号才能开始工作,有效保证了千分尺的测量精确性和可靠性。

2、本发明高防护直动式数显千分尺采用精密定位轴系,配合浮动的副柵构件,有效保证了千分尺传感器的运动精度,且结构简单,装配容易,成本降低。

3、本发明采用大螺距丝杆的推进机构,配合与测杆的浮动连接,在不影响测杆精度情况下可实现测杆的快速推进,大大提高了测量速度。

4、本发明的结构利于密封圈的设置,降低了千分尺的密封工艺难度,使千分尺很容易实现IP67的防护等级。

5、本发明的顶块安装于将其弹性推出的弹性元件上,配上快速测头,使千分尺可以方便实现批量检测时的快速测量。

(四)附图说明:

图1为本发明一种实施方式的结构示意图。

图2为图1实施方式的结构分解图。

图3为图2中测量头与推进组件的内部结构示意图。

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