[发明专利]一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统

权利要求书

1.一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统，其特征在于，包括至少两根含尘气流通道，分别为颗粒物去尘通道（1）以及颗粒物含尘通道（2）；所述颗粒物去尘通道（1）一端设有第一进气管口（3），另一端设有第一浓度检测部件（7）；所述颗粒物含尘通道（2）一端设有第二进气管口（4），另一端设有第二浓度检测部件（8）；所述颗粒物去尘通道（1）上还设有用于滤尘的颗粒物过滤装置，第一进气管口（3）以及第二进气管口（4）均接有PM2.5切割器或PM1.0切割器。

2.根据权利要求1所述的一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统，其特征在于，所述的颗粒物去尘通道（1）包括上部含尘气流通道（5）以及下部含尘气流通道（6），上述第一进气管口（3）设在上部含尘气流通道（5）一端，所述上部含尘气流通道（5）另一端通过上述颗粒物过滤装置与所述下部含尘气流通道（6）一端连通；上述第一浓度检测部件（7）设置在所述下部含尘气流通道（6）的另一端。

3.根据权利要求1所述的一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统，其特征在于，所述颗粒物过滤装置包括一个内部设有滤膜（9）的颗粒物过滤器以及用于放置颗粒物过滤器并能开合的滤膜放置壳体，所述颗粒物过滤器内的滤膜滤径为0.1μm～22μm。

4.根据权利要求1所述的一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统，其特征在于，还包括一具有温度探头（11）的控温装置（10），上述滤膜放置壳体设置在控温装置（10）内。

5.根据权利要求1所述的一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统，其特征在于，所述第一浓度检测部件（7）和第二浓度检测部件（8）均为β射线颗粒物浓度测量设备。