[发明专利]缝纫机

说明书

技术领域

本发明涉及一种缝纫机，其进行被缝制物的侧端部的位置检测，

将被缝制物的缝边控制为目标值。

背景技术

当前，例如日本专利公开公报11-033255号的公开所示，已知一种缝纫机，其在将上下2片布料的沿布料进给方向的一端缘对齐的同时，在相距该一端缘规定距离的位置（缝边）上形成线迹并缝合。即，如图18所示，现有的缝纫机100进行使上布料U和下布料D的各自的缝边一致而缝合的缝制，该缝纫机100具有：进给齿（省略图示），其与压脚105协同动作，沿布料进给方向F输送上布料U和下布料D；上下的横向进给机构102（仅图示上侧），其在与缝针101相比布料进给方向F的上游侧，利用以沿布料进给方向F的轴线为中心旋转的滚轮104，将上布料U和下布料D向布料进给方向F的正交方向分别输送；以及布料检测装置110（仅图示上侧），其在各横向进给机构102和进给齿之间，对上布料U和下布料D的沿布料进给方向F的侧端部G的位置分别进行检测，该缝纫机100基于检测出的侧端部G的位置，利用上下的横向进给机构102使上下布料U、D分别沿X方向移动，以使得上布料U和下布料D的侧端部G一致，同时进行缝制。此外，图示的Y轴方向是水平且与布料进给方向F平行的方向，X轴方向是水平且与Y轴方向正交的方向，Z轴方向表示铅垂方向。

另外，如日本公开专利公报第06-335582号的公开所示，还已知作为布料检测装置而使用线性传感器（图像传感器）的技术。例如，在图19中示出上侧的检测装置的例子，布料检测装置110具有：反射板103，其载置上布料U的端部；光源111，其将检测光向反射板103照射；透镜112，其用于使检测光成为沿与布料进给方向F正交的方向（X轴方向）的狭缝状；线性传感器（图像传感器）113，其对由反射板103或者上布料U反射的检测光进行受光；以及透镜114，其使反射的检测光在线性传感器113上成像。

如图20所示，线性传感器113是沿X轴方向将多个受光元件在线上排列而形成的，根据由上布料U的侧端部对射向反射板103的检测光进行遮挡而产生的各受光元件的受光强度的变化，对上布料U的侧端部的位置进行检测。

此外，下布料D的布料检测装置也具有与上布料U的布料检测装置相同的结构。

另外，在通过布料检测装置110检测出上布料U以及下布料D的侧端部位置发生偏移的情况下，对横向进给机构102进行控制，以修正偏移量，成为侧端部一致的适当位置。

发明内容

但是，在上述缝纫机100的布料检测装置110中，由于光源111发出扩散光，所以产生以下所示的问题。

在图20中，在成为上布料U从反射板103翘起的状态的情况下、或上布料U为较厚的布料的情况下，上布料U的上表面从反射板103向上方远离。在此情况下，从光源111射出的通过上布料U的侧端部G的上缘的光线向反射板103入射的角度（位置）发生偏移（图20中为点划线），因此，检测出从线性传感器113的本来应该检测出的上布料U的侧端部G的检测位置P11偏离的检测位置P12，存在无法正确地识别侧端部G的位置的问题。另外，相同地，对于下布料D的布料检测装置120，在下布料D从下布料检测面104翘起而向上方远离的情况下，检测出从线性传感器123的本来的检测位置P21偏离的检测位置P22，也存在无法正确地识别侧端部G的位置的问题。

另外，上布料U以及下布料D的布料检测装置110、120配置为，成为各自的光源111、121的光轴主要朝向上下方向的状态，因此，成为难以使布料检测装置110的上下方向的尺寸变薄的构造。由于上布料U的布料检测装置110配置在横向进给机构102和布料压脚之间的狭窄区域内，所以期望布料检测装置110的上下方向的小型化。另一方面，下布料D的布料检测装置120需要配置为，进入针板下侧，以使得针板上表面和下布料检测面104成为相同的高度，但由于在针板的下侧密集配置有进给齿机构及切线装置等，所以也期望布料检测装置120的上下方向的小型化。

本发明的目的是，更高精度地检测被缝制物的侧端部的位置。

另外，本发明的其他目的是，实现布料检测装置的上下方向的小型化。

技术方案1记载的发明是一种缝纫机，其具有：

布料进给机构，其将被缝制物沿水平面而向布料进给方向输送；

横向进给机构，其使所述被缝制物沿与所述水平面平行且与所述布料进给方向正交的缝边方向移动；

布料端部检测单元，其对所述被缝制物的沿所述布料进给方向的侧端部进行检测；以及