[发明专利]基于线阵CCD的物件表面缺陷检测方法及装置有效
申请号: | 201210334643.0 | 申请日: | 2012-09-11 |
公开(公告)号: | CN102854194A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 邹润民;王勋志;郭述帆 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人: | 黄美成 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 ccd 物件 表面 缺陷 检测 方法 装置 | ||
1.一种基于线阵CCD的物体表面缺陷检测方法,其特征在于,光源发出的光照射在物体表面上,物体表面的图像成像到线阵CCD器件的像元阵列表面,使得线阵CCD器件输出用于表征光强的模拟电压信号S(t);线阵CCD器件中的每一个像数对应一个模拟电压信号S(t);
采用BP神经网络对模拟电压信号S(t)进行分类处理,从而识别出物体表面缺陷;
所述的BP神经网络的输入层为一个神经元,输入信号为模拟电压信号S(t);
所述的BP神经网络的隐含层为一层,包含3个神经元;
所述的BP神经网络的输出层为一个神经元,输出0或1信号分别表示当前像素点对应的物体表面区域为缺陷或正常;由于像素点在线阵CCD中的位置与物体表面区域具有一一对应关系,因此,根据输出信号为0的像素点在线阵CCD器件中的位置即能确定物体的缺陷位置所在。
2.根据权利要求1所述的基于线阵CCD的物体表面缺陷检测方法,其特征在于,在使用BP神经网络前,先对BP神经网络进行数据预处理和训练;
所述的数据预处理的过程为:先用样本中的模拟电压信号S(t)的值除以该列的最大模拟电压信号S(t)的值,以使其输入值限定在区间[0,1]上;并且,用0表示“缺陷”,用1表示“正常”,作为BP神经网络的预期输出;
所述的训练过程为:
(1)初始化该网络的权值和偏差:网络的初始化权值和偏差取用随机函数生成的介于[-1,1]的小数;
(2)进行训练及扫描过程的迭代:
输出神经元的实际值>0.9时就认为此时的输出的布尔量是1,输出<0.1时认为此时的输出的布尔量是0;
将学习率η设为0.9,根据指定的终止条件神经网络的输出值和实际输出值的误差小
于0.1,采用多个样本,对权值和偏差采用实例更新的方法进行训练及迭代;
①相对于前一层i,计算神经元j的净输入Ij为Ij=∑(Wij·Oi)+θj;
②计算神经元输出:使用对数型的单极性Sigmoid函数将各神经元j的输出映射到区间[0,1];
③计算反向传播误差ERRj:对输出层的各神经元j,ERRj=Oj*(1-Oj)*(Tj-Oj),其中,Tj为训练样本的已知类标号实际输出;
④计算隐藏层神经元j的误差ERRj:从最后一个到第一个隐藏层的各神经元j,ERRj=Oj*(1-Oj)*∑(ERRk*Wjk),K为输出层的节点编号;
⑤更新权值:对网络中的中各权值Wij,使用下面两式来计算,ΔWij=η*ERRj*Oj;
Wij=Wij+ΔWij;
⑥更新偏差:对网络中的各偏差θj,使用下面两式来计算
Δθj=η*ERRj;
θj=θj+Δθj;
训练完成后,从BP神经网络提取关于输入和输出类的关联规则。
3.一种基于线阵CCD的物体表面缺陷检测装置,其特征在于,采用权利要求1或2所述的基于线阵CCD的物体表面缺陷检测方法,包括光学图像采集模块、可编程逻辑器件、驱动模块、信号调理模块和A/D转换模块;
可编程逻辑器件通驱动模块驱动光学图像采集模块工作;光学图像采集模块的输出信号依次经信号调理模块和A/D转换模块输入到可编程逻辑器件进行处理;
光学图像采集模块包括光源、光学镜头和图像传感器。
4.根据权利要求1所述的基于线阵CCD的物体表面缺陷检测装置,其特征在于,还包括与可编程逻辑器件连接的显示屏和报警音箱。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中南大学,未经中南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210334643.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种面向工业企业在线多维能耗数据统计建模方法
- 下一篇:宽带吸声风管及风口