[发明专利]非晶硅钝化N型背接触电池及其制备方法无效
申请号: | 201210205311.2 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN102738288A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 陈艳 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | H01L31/068 | 分类号: | H01L31/068;H01L31/0352;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
地址: | 213031 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非晶硅 钝化 接触 电池 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种非晶硅钝化N型背接触电池及其制备方法。
背景技术
随着光伏行业的不断发展,降低发电成本是一个不得不面对的问题,而提高电池片效率就是降低成本的关键措施。背结背接触电池(BJBC)的金属电极全部在背面,正面完全没有栅线,短路电流提高明显,电池效率最高达到24.2%。由于BJBC电池特殊的结构,组件成本也进一步降低。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供一种非晶硅钝化背接触电池及其制备方法,解决背结背电池工艺中成本高、工艺复杂的技术问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种非晶硅钝化N型背接触电池,包括N型硅片基体,在所述的N型硅片基体的背面具有形成P型发射极的P型掺杂层和形成N型背场的N型非晶硅层,在P型掺杂层和N型非晶硅层上制作电极。
为了有效保护P型掺杂层和N型非晶硅层,防止其受到损伤,在所述的P型掺杂层和N型非晶硅层上均覆盖氧化铝和氮化硅叠层膜。
为了减小电池在使用中光的反射率,提高短路电流,增加PN结的面积,最终提高电池的光电转换效率,在所述的N型硅片基体的正面制绒,并覆盖氮化硅膜。
进一步的,所述非晶硅钝化N型背接触电池的制备方法:
通过掩膜的方式在N型硅片基体的背面扩散形成P型掺杂层,在扩散后的硅片背面开槽,通过掩膜的方式在开槽区域内沉积N型非晶硅层,P型掺杂层和N型非晶硅层构成背接触电池背面的P型发射极和N型背场。
进一步的,具体步骤为:
①、在N型硅片基体的正面进行制绒;
②、N型硅片基体的正面沉积掩膜层,N型硅片基体的背面扩散形成P型掺杂层;
③、去除N型硅片基体的掩膜层后再次对N型硅片基体进行掩膜处理,在N型硅片基体的正反面形成掩膜层;
④、在N型硅片基体的背面进行激光开槽;
⑤、去除激光开槽对N型硅片基体的损伤,对槽区内沉积生长N型非晶硅层,最后形成N型背场;
⑥、去除N型硅片基体的掩膜层,在N型硅片基体的正面镀上氮化硅叠层膜,N型硅片基体的背面镀上氧化铝和氮化硅叠层膜;
⑦、N型硅片基体背面印刷金属栅线。
为了便于在单晶硅上制备绒面,将所述N型硅片基体采用N型直拉单晶硅,单晶具有各向同性,充分利用各向同性在单晶硅上碱制绒制备金字塔绒面。
为了减小电池在使用中光的反射率,提高短路电流,增加PN结的面积,最终提高电池的光电转换效率,在所述的步骤①中的制绒为碱制绒,碱制绒后的反射率为6%~8%。
进一步的,在所述的步骤②中P型掺杂层的方阻为10~100ohm/sq。
进一步的,在所述的步骤④中激光开槽的槽宽为100~300um。
为了实现在沉积过程中基本温度低,沉积速率快,成膜的质量好,针孔小且不易龟裂的目的,在所述的步骤⑤中对槽区采用PECVD法沉积,在PECVD中通入PH3+SiH4+H2,生长n+a-Si,形成N型非晶硅层,厚度为5~10nm,方阻为10~100ohm/sq。
本发明的有益效果是:本发明提供一种非晶硅钝化背接触电池及其制备方法,解决背景技术中涉及的不足,首先在单晶硅上形成N型非晶硅层,利用N型非晶硅层较好的氢钝化效果和场钝化效果;由于金属电极全部设置在背面,正面完全没有金属栅线,所以短路电流明显提高,将N型非晶硅层作为背结背接触电池中的电场,提高钝化效果,使电池效率上升明显,使工艺变的简单,提高生产效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的结构示意图。
图中:1、N型硅片基体,2、氮化硅膜,3、氧化铝和氮化硅叠层膜,4、N型非晶硅层,5、P型掺杂层,6、金属栅线。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
如图1所示的一种非晶硅钝化N型背接触电池,包括N型硅片基体1,在N型硅片基体1的背面具有形成P型发射极的P型掺杂层5和形成N型背场的N型非晶硅层4,在P型掺杂层5和N型非晶硅层4上制作电极。
为了减小光的反射率,提高短路电流,增加PN结的面积,最终提高电池的光电转换效率,在P型掺杂层5和N型非晶硅层4上均覆盖氧化铝和氮化硅叠层膜3,在N型硅片基体1的正面制绒,并覆盖氮化硅膜2。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的