[发明专利]一种高温超导带材多场特性测量装置有效

专利信息
申请号: 201210190410.8 申请日: 2012-06-08
公开(公告)号: CN102735964A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 张国民;刘琦;李金成;胡磊;林良真;肖立业;余运佳 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 高温 超导 带材多场 特性 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种高温超导带材多场特性测量装置,其特征在于所述的测量装置包括杜瓦容器(1)、背景磁体(2)、超导带材样品架(3)、连接杆(5)、第一施力杆(6)、第二施力杆(7)、施力弹簧(8)、施力板(9)、支架板(10)、杜瓦容器上盖板(11)、被测超导带材电流引线(12)、被测超导带材测量引线(13)、螺栓(14),以及背景磁体的电流引线(15);所述的杜瓦容器(1)内安装有背景磁体(2);第一施力杆(6)的上端与螺栓(14)的下端连接,通过螺栓(14)控制第一施力杆(6)的施力大小;第一施力杆(6)的下端与支架板(10)连接,第一施力杆(6)与施力弹簧(8)的上端接触;第二施力杆(7)的上端与支架板(10)连接,并与施力弹簧(8)的下端接触,第二施力杆(7)的下端与施力板(9)的上端接触,施力板(9)的下端与被测超导带材(4)接触;两个连接杆(5)对称分布在超导带材样品架(3)的两侧,两个连接杆(5)的下端固定在超导带材样品架(3)上,两个连接杆(5)的上端固定在杜瓦容器上盖板(11)上;背景磁体(2)、超导带材样品架(3)、被测超导带材(4)、被测超导带材电流引线(12)、被测超导带材测量引线(13)、背景磁体的电流引线(15)均置于杜瓦容器(1)中,低温容器(1)内充有液氮;两根被测超导带材电流引线(12)的一端压接在被测超导带材(4)的两端,两根被测超导带材电流引线(12)的另一端从杜瓦容器的上盖板(11)穿出;被测超导带材测量引线(13)的一端以一定间距间隔焊接在被测超导带材(4)的表面,被测超导带材测量引线(13)的另一端从杜瓦容器的上盖板(11)穿出。

2.按照权利要求1所述的高温超导带材多场特性测量装置,其特征在于所述的超导带材样品架(3)放置带材的位置为圆弧形,所述的施力板(9)的下表面与超导带材样品架(3)对应,也为圆弧形;被测超导带材(4)浸没在所述杜瓦容器(1)内的液氮中且压在超导带材圆弧形样品架(3)上,使得被测超导带材(4)被弯曲成圆弧形。

3.按照权利要求1所述的高温超导带材多场特性测量装置,其特征在于所述超导带材样品架(3)、连接杆(5)、第一施力杆(6)、第二施力杆(7)、支架板(10)、施力板(9)均采用环氧材料制成。

4.按照权利要求1所述的高温超导带材多场特性测量装置,其特征在于所述的被测超导带材样品架(3)圆弧形下表面间隔一定距离开槽,引出被测超导带材测量引线(13)。

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