[发明专利]一种纳米晶/量子点敏化晶硅电池片的化学气相沉积制备方法有效
申请号: | 201210189399.3 | 申请日: | 2012-06-08 |
公开(公告)号: | CN102694073A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 余锡宾;浦旭鑫;冯吴亮;夏玉胜 | 申请(专利权)人: | 上海师范大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人: | 吴瑾瑜 |
地址: | 200234 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 量子 点敏化晶硅 电池 化学 沉积 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种纳米晶/量子点敏化晶硅电池片的化学气相沉积制备方法,属于半导体光电材料和太阳能电池领域。
背景技术
2011年全球光伏产量达到37.2GW,其中,晶硅电池占据所有光伏电池产品近90%的市场份额。预计2020年全球光伏产量达到100GW,晶硅电池仍然将起主导作用。
晶硅电池的理论转化效率约为31%,是目前市场上效率最高,技术最为成熟的光伏器件。但是,实验室报道的晶硅电池最高效率为25%,规模生产的电池,大部分被限制在15%左右。另一方面,由于繁琐的电池制造工艺,使得晶硅电池的生产成本较高。所以,进一步提高晶硅电池的光电转换效率,降低生产成本,将是晶硅电池努力发展的方向。
制约晶硅电池光电转换效率和成本的主要原因主要来自两个方面:单晶硅能带较窄,只能吸收600-1000nm的太阳光,高于能隙的太阳光能只能以“热电子”的形式损耗,造成电学损失;同时,部分阳光在电池平板表面的反射造成光学损失。为了减少这些额外损失,通常采用表面织构化,设置钝化层,分区扩散等技术以增加光子吸收,这些制造过程工艺繁琐,涉及多道工序,生产成本高昂。通过在晶硅电池片上设置纳米晶/量子点(QDs)敏化层,不仅有助于减少光的反射,增强吸收,而且可以通过纳米晶/量子点减缓“热电子”冷却速率,提高晶硅电池片的光电性能。
发明内容
本发明的目的是针对现有晶硅电池存在的问题而提供一种纳米晶/量子点敏化晶硅电池片的化学气相沉积制备方法,在现有晶硅电池片上用化学气相沉积的方法沉积一层纳米晶/量子点敏化层,继而进入常规晶硅电池的生产工序,包括:蒸镀减反射膜、丝网印刷、快速烧结等。
一种纳米晶/量子点敏化晶硅电池片的化学气相沉积制备方法,具体包括以下步骤:
a)按照28%氨水:30%过氧化氢:纯水体积比为1:1:(3-4)的比例配制清洗液,将扩散晶硅电池片投入清洗液,超声清洗5-15min,取出,用纯水洗涤;
b)按照40%氢氟酸:无水乙醇体积比为(1-3):1的比例配制腐蚀液,将清洗的扩散晶硅电池片投入腐蚀液中,超声腐蚀2-15min,取出,用纯水洗涤;
c)将腐蚀的晶硅电池片在0.1-1mol/L氟化铵溶液中浸渍超声2-15min,进行表面氢封端处理;
d)将氢封端处理的晶硅电池片,投入浓度为0.01-0.5mol/L金属盐水溶液中,浸渍超声2-15min,进行金属盐处理,取出,放入真空干燥箱;
e)根据晶硅片电池片大小,按每1cm2晶硅电池片称取0.32g硫粉,称取相应质量硫粉,作为硫源,放入真空干燥箱;
f)使硫源距晶硅电池片中央1-15cm,温度200-250℃,真空度0.097-0.099MPa,化学气相沉积5-30min,对硅片表面进行硫化,形成纳米晶/量子点敏化层;
g)将纳米晶/量子点敏化的晶硅电池片,浸没在纯水中超声洗涤2-15min,取出,置150-200℃烘箱内干燥5-15min。
本发明所述的晶硅为单晶硅、多晶硅、非晶硅或微晶硅。
本发明所述的金属盐为锡、锌、铅、铜、铋、锑、镉和银的金属氯化物、醋酸盐、硫酸盐和硝酸盐中的一种。
本发明所制备的纳米晶/量子点尺寸为2-100纳米。
本发明所制备的纳米晶/量子点敏化层厚度为5-500纳米。
本发明提出的一种纳米晶/量子点敏化晶硅电池片的化学气相沉积制备方法,具有以下特点和优点:
a)本发明的纳米晶/量子点对太阳光具有较强的吸收作用,可以起到减少晶硅电池表面反射的作用,而且纳米晶/量子点能够减缓“热电子”冷却速率,提高晶硅电池片的光电性能;
b)对晶硅电池片表面采用腐蚀和氢原子封端处理,能够增强纳米晶/量子点在晶硅电池片表面的牢固性,有效改善界面成膜质量;
c)对处理过的晶硅电池片进行硫化物纳米晶/量子点敏化层的化学气相沉积,可以避免硅片与硫直接接触反应造成的交叉污染和界面破坏;
d)本发明采用200-250℃的沉积温度,可以减少高温过程产生的诱导应力对硅片造成的损害,同时保证电池片的光电性能;
e)本发明所提出的化学气相沉积方法简单,原料价格低廉,适应范围广泛,适合规模化工业生产。
附图说明
图1是采用纳米晶/量子点敏化层的晶硅电池结构示意,其中,1是金属铝背电极,2是扩散p-n晶硅层,3是纳米晶/量子点敏化层,4是减反射膜层,5是金属栅极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的