[发明专利]一种超低频正弦信号相位差的同步快速测量方法及装置无效
申请号: | 201210149943.1 | 申请日: | 2012-05-14 |
公开(公告)号: | CN102645585A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 梁志国;朱振宇;武腾飞;张大鹏;胡春艳 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | G01R25/00 | 分类号: | G01R25/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100095*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低频 正弦 信号 相位差 同步 快速 测量方法 装置 | ||
1.一种超低频正弦信号相位差的同步快速测量方法,用于两路超低频正弦信号相位差测量,待测的两路正弦信号具有相同频率,其特征在于,其具体步骤为:
1)对两路待测正弦信号进行信号调理,利用模数转换电路对调理后的两路信号进行同步采样,将采样得到的两路波形数据序列yk,i送入计算机,其中k表示第k路正弦信号对应的通道编号且k=1,2,i表示同步采样序列中采样点序号且i=1,2,…,n,两路通道中同一序号采样点的采样时刻相同;
2)使用计算机将接收到的两路波形序列分别进行正弦拟合,获得两路正弦的初始相位具体为:
2.1 对两路正弦信号分别进行数学描述,设第k路正弦信号波形为
其中,Ak为第k路正弦信号幅值,为第k路正弦信号初始相位值;
第k路正弦信号波形数据序列为
yk,i=yk(ti)=yk((i-1)×Δτ)
其中,通道采样时间间隔ΔτΩ1/v,v为通道采样速率;
2.2 计算机对两路波形数据序列yk,i分别进行正弦波形四参数拟合,获得拟合信号
其中,为第k路正弦信号幅度的拟合值,为正弦信号角频率的拟合值,为第k路正弦信号初始相位的拟合值,为第k路正弦信号直流分量值的拟合值;
2.3 计算第一路正弦信号和第二路正弦信号之间的正弦波信号的相位差测量值为
其中,和为拟合正弦波的初始相位;
3)计算机将计算得到的两个通道正弦波形间的相位差以虚拟仪器的方式进行显示输出。
2.根据权利要求1所述的一种用于超低频正弦信号相位差量值的快速测量方法,其特征在于,所述步骤2.2中进行正弦波形四参数拟合的过程为:
(1)设定初始参数,具体包括:待测的正弦信号的频率预估值为f0,角频率预估值ω0=2πf0/v,波形采集序列所含信号不足一个周期且个数为p,波形采集序列占用时间长度为τ,则f0≤1/τ,选取另一个足够小的正数因子q=1×10-5,使得f0>q/τ,此时f0∈[q/τ,2/τ];
(2)设定拟合迭代停止条件为一个接近于0的足够小的正数;
(3)从已知时刻t1,t2,...,tn的正弦波采集样本y1,y2,...yn,使用计点法获得信号波形占用时间长度为τ=(n-1)/v,确定目标频率f0的存在区间[q/τ,2/τ];
(4)确定迭代左边界频率fL=q/τ和迭代左边界角频率ωL=2πfL/v以及迭代右边界频率fR=2/τ和迭代右边界角频率ωR=2πfR/v,令中值角频率ωM=(ωR+ωL)/2;
(5)在迭代左边界角频率ωL、迭代右边界角频率ωR和中值角频率ωM上分别利用频率已知的三参数正弦波形拟合公式计算各自的拟合残差ρ(ωL)、ρ(ωR)和ρ(ωM);
(6)若ρ(ωL)<η·ρ(ωM),则令迭代右边界角频率ωR=ωM,迭代左边界角频率ωL不变,重复执行步骤(5)~步骤(6),其中η为判据因子且η取值范围为1~1.5;
(7)若ρ(ωL)≥η·ρ(ωM),则必有ωR<2ω0,确定左边界角频率为ωL,右边界角频率ωR,按照优选法原则,选取两个中值角频率分别为
ωM=ωL+0.618×(ωR-ωL)
和
ωT=ωR-0.618×(ωR-ωL);
(8)在左边界角频率ωL上执行频率已知的三参数正弦曲线拟合获得拟合幅度AL、拟合相位拟合直流分量DL、拟合残差ρL,在右边界角频率ωR上执行频率已知的三参数正弦曲线拟合获得拟合幅度AR、拟合相位拟合直流分量DR、拟合残差ρR,在中值角频率ωM上执行频率已知的三参数正弦曲线拟合获得拟合幅度AM、拟合相位拟合直流分量DM、拟合残差ρM,在中值角频率ωT上执行频率已知的三参数正弦曲线拟合获得拟合幅度AT、拟合相位拟合直流分量DT、拟合残差ρT;
(9)若ρM<ρT,则最小拟合残差ρ=ρM,有ω0∈[ωT,ωR],参量更新为ωL=ωT,ωT=ωM,ωM=ωL+0.618×(ωR-ωL);若ρM≥ρT,则最小拟合残差ρ=ρT,有ω0∈[ωL,ωM],参量更新为ωR=ωM,ωM=ωT,ωT=ωR-0.618×(ωR-ωL);
(10)判定若|ρM-ρT)/ρT|≥he,则重复步骤(5)~步骤(10);若|(ρM-ρT)/ρT|<he,则停止迭代,此时又分为两种情况:若最小拟合残差ρ=ρT,获得四参数拟合正弦曲线参数为拟合过程结束;若最小拟合残差ρ=ρM,获得四参数拟合正弦曲线参数为拟合过程结束。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,未经中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210149943.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体三极管
- 下一篇:一种薄膜晶体管阵列基板