[发明专利]光纤弯曲性能的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种涂覆有树脂的光纤的弯曲性能的测量方法。

背景技术

近年来随着FTTH(光纤到户)的发展，弯曲损耗小的光纤的使用越来越普及。光纤的弯曲损耗因为光纤的弯曲而产生。光纤弯曲损耗的测量方法在ITU-T G.650.1 5.6“Test methods for the macrobend loss(宏弯曲损耗的测量方法)”有规定，在日本专利申请公开No.H1-203938、日本专利申请公开No.2002-310850和日本专利申请公开No.2009-229120中也有所描述。根据这些文献，通过评估光纤未弯曲时得到的透射功率与光纤弯曲时得到的透射功率之间的差值来测量弯曲损耗。

在R.Morgan等人的“Wavelength dependence of bend loss in monomode optical fibers：effect of the fiber buffer coating(单模光纤中的弯曲损耗的波长相关性：光纤缓冲涂层的影响)”，Vol.15，No.17，Optics Lett.P.947(1990)(非专利文献1)中指出，弯曲损耗出于如下原因而产生：当光纤弯曲时，在弯曲部分处纤芯模的一部分射出到包层，已经泄漏到包层的一部分光(回廊模)与纤芯模通过涂层与空气之间的界面处的菲涅耳反射而再次组合。在进行这种再次组合时，在纤芯模与回廊模之间产生干涉，从而产生在弯曲光纤的透射谱中具有相等光频间隔的振荡分量。结果，难以实现对弯曲损耗的准确测量。

光纤的弯曲半径越小，回廊模的产生越显著。近年来，随着FTTH的发展，在诸如5mm或7.5mm等小曲率半径下保证小衰减的光纤的应用越来越广泛。然而，在这种曲率半径小的情况下，难以用简单的方式准确地测量弯曲损耗。

公知的是，如果通过将光纤浸入折射率匹配液中而在空气与光纤的涂层之间的界面处抑制菲涅耳反射和全反射，则回廊模可以从围绕心轴缠绕的光纤逃逸到外部。然而，与通常的测量方法相比，将光纤浸入折射率匹配液中费时费力，从而导致工时延长、成本增加。此外，还会出现另外的问题：例如，因为折射率匹配液，可能容易弄脏产品。

发明内容

本发明的目的是提供一种光纤弯曲性能的简易测量方法。

本发明的光纤弯曲性能的测量方法包括：(1)第一步，在所述光纤没有出现弯曲损耗的状态下，在使光入射至所述光纤的一端的情况下，测量从所述光纤的另一端射出的光的功率P₀；(2)第二步，围绕直径为2R的心轴缠绕所述光纤并用折射率匹配片材覆盖如此缠绕的光纤的整个外周，随后在使光入射至所述光纤的一端的情况下，测量从所述光纤的另一端射出的光的功率P₁，所述折射率匹配片材的折射率与所述光纤的最外层中的树脂的折射率基本匹配；以及(3)第三步，基于在所述第一步中测得的功率P₀与在所述第二步中测得的功率P₁，测量在所述光纤以直径2R弯曲的情况下所述光纤的弯曲损耗。

根据本发明的光纤弯曲性能的测量方法，所述折射率匹配片材的折射率与所述光纤的最外层中的树脂的折射率之间的差值优选地为±0.3或更小，更优选地所述差值为±0.1或更小。所述折射率匹配片材的压缩弹性模量优选地为50N/mm²或更小，更优选地所述压缩弹性模量为30N/mm²或更小。所述折射率匹配片材可以由选自包括聚氨酯凝胶、聚氨酯弹性材料和UV树脂的群组的任一者制成。

本发明的效果

根据本发明，可以简易地测量光纤的弯曲性能。

附图说明

图1A和1B是示出光纤弯曲损耗的测量方法的概念示意图。

图2是示出比较例中在第一步中测量的光纤1的透射功率P₀的波长相关性以及在第二步中测量的光纤1的透射功率P₁的波长相关性的曲线图。

图3是示出比较例中光纤1的透射功率P₀与透射功率P₁之间的差值P_Bend的波长相关性的曲线图。

图4是示出本发明实施例的光纤弯曲性能的测量方法中的第二步的示意图。

图5是示出差值P_Bend的波长相关性的曲线图，其中实线示出根据该实施例的光纤弯曲性能的测量方法得到的测量结果，虚线示出采用现有方法得到的测量结果。