[发明专利]具有多种波域检索光源的晶粒检视机台

说明书

技术领域

本发明涉及一种晶粒检视机台，特别是涉及一种分检发光二极管晶粒(LED CHIP)用的具有多种波域检索光源的晶粒检视机台。

背景技术

晶粒检视机台是用于分检贴覆在胶膜100上并分割成多个发光二极管晶粒200的晶圆300的器具，其作用在于预检出异常的发光二极管晶粒200，避免再对这些质量不合乎预设规格的发光二极管晶粒200进行后续工艺，而可以提高整体产能、良率，进一步降低生产成本。

参阅图1，现有的晶粒检视机台包含一个承置平台11，和一个检索光源装置12，该承置平台11用于承载贴覆在胶膜100上并切割成多个发光二极管晶粒200的晶圆300，该检索光源装置12设置于该承置平台11上方，并在供电时发出照射至承置平台11的红光；当贴覆在该胶膜100上并切割成多个的发光二极管晶粒200受光时，会反射光而形成预定的影像供视觉辨识，借此影像分别筛检出异常及符合品检规格的发光二极管晶粒200。

现有的晶粒检视机台确实可以发出单一波域范围的光(红光)而以视觉辨识出异常及符合品检规格的发光二极管晶粒200，但由于现有的晶粒检视机台的检索光源装置12只能发出红光进行检视，因此在分检现在越趋多样产品种类的发光二极管晶粒200时并无法完全适用-例如以现有的发出红光的晶粒检视机台分检晶背镀金的发光二极管晶粒200时，以视觉辨检影像所筛检的晶粒不良率大幅增高至极不合理的程度，经过探究后发觉，并非是发光二极管晶粒200不符合品检规格，而是因为进行分检时所使用的红光并无法穿透金，而导致视觉辨析模糊，进而出现错误的分检结果。

因此，现有的晶粒检视机台需要针对越趋多样化的发光二极管晶粒200产品种类进行改进，以针对不同的产品提高辨识率，或是提升机台可用于分检各多样不同产品别的使用率。

发明内容

本发明的目的在于，克服现有的晶粒检视机台存在的缺陷，而提供一种可用于分检多样不同产品种类的具有多种波域检索光源的晶粒检视机台。

本发明的目的与所要解决的技术问题是通过以下的技术方案实现：

本发明具有多种波域检索光源的晶粒检视机台，包含一个承置平台，及一个检索光源装置。

该承置平台用于承载贴覆在胶膜上并分割成多个发光二极管晶粒的晶圆。

该检索光源裝置位于该承置平台上方，具有多个光源模块，每一个光源模块包括多个发出同一波域范围的光的发光二极管灯，且每一个光源模块可被选择地分别供电而令所述发光二极管灯发光照射该承置平台。

本发明的目的及解决技术问题还采用以下技术手段进一步实现。

较佳的，所述光源模块的发光二极管灯在供电时能分别发出红光、蓝光或白光。

较佳的，所述光源模块相对于该承置平台的一中心排列设置成环形。

较佳的，每一光源模块的多个发光二极管灯相对于该承置平台的中心成径向排列设置。

较佳的，每一光源模块多个发光二极管灯相对于该承置平台的一中心成环形排列设置。

本发明的有益效果在于：提供一种可以针对不同产品种类、待检验的发光二晶管晶粒选用适当波长的光，例如蓝光、红光或白光进行视觉辨检的具有多种波域检索光源的晶粒检视机台。

附图说明

图1是一立体示意图，说明现有的晶粒检视机台；

图2是一立体示意图，说明本发明具有多种波域检索光源的晶粒检视机台的一个较佳实施例；

图3是一仰视示意图，说明该较佳实施例中的检索光源装置，及其多个光源模块的发光二极管灯的设置状态；

图4是一类似图3的仰视图，说明该较佳实施例中的检索光源装置，及其多个光源模块的发光二极管灯的另一种设置状态。

具管实施方式

下面结合附图及实施例对本发明进行详细说明。

参阅图2，本发明具有多种波域检索光源的晶粒检视机台的一个较佳实施例包含一个承置平台2，和一个用于分检发光二极管晶粒200的检索光源装置3。

该承置平台2用于承载贴覆在胶膜100上并分割成多个发光二极管晶粒200的晶圆300，且该承置平台2是设计为可移动式取出而方便于放置、拿取该晶圆300。