[发明专利]薄膜太阳能电池无效
申请号: | 201210028190.9 | 申请日: | 2012-01-12 |
公开(公告)号: | CN103187460A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 彭振维;黄昭雄;曹耀中 | 申请(专利权)人: | 联相光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/0376 | 分类号: | H01L31/0376;H01L31/075 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 张静洁;徐雯琼 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 太阳能电池 | ||
技术领域
本发明是有关于一种薄膜太阳能电池,特别是一种改变现有薄膜太阳能电池的半导体层中的I型层的构成材料,以有效提升转换效率的薄膜太阳能电池。
背景技术
近来由于环保意识的抬头和其它能源的逐渐枯竭短缺,太阳能源又开始受到高度的重视。太阳光是取之不尽、用之不竭的天然能源,除了没有能源耗尽的疑虑之外,也可以避免能源被垄断的问题。由于太阳能电池具有使用方便、无污染、使用寿命长等优点,因此可以利用太阳能电池作为能源的取得。
目前一般常用的太阳能电池又可包含薄膜太阳能电池,其具有成本较低、厚度较薄和电能功率耗损较少等的优点。就现有技术而言,一般常见的薄膜太阳能电池1在基本制程中,主要是以P-I-N半导体层12的三层结构构成为主,该半导体层12包含了P型层121、I型层122及N型层123,且该半导体层12是以P型层121、I型层122及N型层123的顺序,依序经由溅镀或是化学气相沉积方式在电极层11上,如图1所示。且在现有技术中,本质硅薄膜主要成分为氢原子与硅原子,在正常情况下氢原子与硅原子以非晶硅(amorphous,a-Si)形式存在,呈现无序杂乱排列光照时易造成转换效率衰退。
然而,薄膜太阳能电池发展至今,技术虽渐趋成熟,但仍然有许多尚待改进之处,其主因在于,薄膜太阳能电池的转换效率依然不够高。
发明内容
鉴于上述现有技术的问题,本发明的目的就是提供一种薄膜太阳能电池,以解决现有技术的薄膜太阳能电池的转换效率较差的问题。
根据本发明的目的,提出一种薄膜太阳能电池,包含电极层以及半导体层。半导体层包含P型层、I型层及N型层。P型层位于电极层上。I型层包含I型非晶硅层及I型短程有序非晶硅层,I型非晶硅层位于P型层上,I型短程有序非晶硅层位于I型非晶硅层上。N型层位于I型短程有序非晶硅层上。其中I型非晶硅层占I型层的厚度比例大于I型短程有序非晶硅层所占的比例。
进一步地,本发明所述的薄膜太阳能电池更包含基板,电极层位于基板上。
进一步地,基板的材质包含金属或不透光的玻璃。
进一步地,电极层为透明导电薄膜,是由掺杂氟的二氧化锡或氧化锌掺硼构成。
进一步地,I型非晶硅层的厚度可为2300埃。
进一步地,I型短程有序非晶硅层的厚度可为200埃。
进一步地,I型非晶硅层占I型层的厚度比例为92%,I型短程有序非晶硅层占I型层的厚度比例为8%。
进一步地,I型短程有序非晶硅层占I型层的厚度比例进一步可调整至9%~92%,而I型非晶硅层则相对调整至91%~8%。
进一步地,I型层在经由电浆辅助化学气相沉积制程中,通过调整一制程参数,以改变I型层中氢原子与硅原子的排列,从而在I型层中形成有短程有序非晶硅层;其中,制程参数的调整包含压力调整至大于80pa,温度调整至小于200℃。
进一步地,I型层中的非晶硅层及短程有序非晶硅层的辨别,通过一穿透式电子显微镜拍摄I型层的绕射图形来达成。
根据本发明的目的,又提出一种薄膜太阳能电池,其包含电极层以及半导体层。半导体层包含P型层、I型层及N型层。P型层位于电极层上。I型层包含I型非晶硅层及I型短程有序非晶硅层,I型非晶硅层位于P型层上,I型短程有序非晶硅层位于I型非晶硅层上。N型层位于I型短程有序非晶硅层上。其中,I型非晶硅层占I型层的厚度比例小于I型短程有序非晶硅层所占的比例。
进一步地,I型非晶硅层的厚度可为200埃。
进一步地,I型短程有序非晶硅层的厚度可为2300埃。
进一步地,I型非晶硅层占I型层的厚度比例为8%,I型短程有序非晶硅层占I型层的厚度比例为92%。
进一步地,I型短程有序非晶硅层占I型层的厚度比例进一步可调整至91%~8%,而I型非晶硅层则相对调整至9%~92%。
根据本发明的目的,再提出一种薄膜太阳能电池,其包含电极层以及半导体层。半导体层包含P型层、I型层及N型层。P型层位于电极层上。I型层包含I型短程有序非晶硅层及I型非晶硅层,I型短程有序非晶硅层位于P型层上,I型非晶硅层位于I型短程有序非晶硅层上。N型层位于I型非晶硅层上。其中,I型非晶硅层占I型层的厚度比例大于I型短程有序非晶硅层所占的比例。
进一步地,I型非晶硅层的厚度可为2300埃。
进一步地,I型短程有序非晶硅层的厚度可为200埃。
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