[发明专利]OTP存储数据的写入与读取电路无效
申请号: | 201210008251.5 | 申请日: | 2012-01-12 |
公开(公告)号: | CN102623065A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 韩红娟;杨卫;江猛 | 申请(专利权)人: | 苏州华芯微电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C17/18 | 分类号: | G11C17/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215011 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | otp 存储 数据 写入 读取 电路 | ||
技术领域
本发明特别涉及集成电路技术领域的一种MCU的存储器件的写入与读取电路。
技术背景
对于可编程的OTP存储结构,数据传输端口为读写共用的双向端口,且写入数据时,OTP单元的栅极及漏极都需要加高压,因此对于OTP存储数据的烧写与读取电路,提出了特定的要求。对OTP写入数据时,栅极电压可直接通过高压管产生,写1时漏极电压需要达到“3-5V”,写0时漏极电压为低。为了达到要求的烧写电压,可以直接在烧写电路的漏极加高压结构,且不能影响读取电路,必须添加隔离读取的高压管。对OTP读取数据时,栅极电压为正常的读电平,不同的存储值,读取方式不同,存储的为0时,直接将0传输给读取电路,而读取为1时,OTP单元漏端为悬空态,需要靠读取电路将其最终输出拉高。此时读取时OTP单元漏端电压会受读取电路控制,超过1.8V,就会影响OTP工作寿命。
发明内容
本发明目的在于提出一种结构简洁,且能正常对OTP写入与读取数据,又能保证OTP单元寿命的OTP存储数据的写入与读取电路。
为实现上述目的,本发明提出如下技术方案:
一种OTP存储数据的写入与读取电路,其特征在于,所述OTP存储数据的写入与读取电路包括第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十、十一场效应管,第一、二、三、四非门,所述第五场效应管源极接接VDD,第五场效应管栅极与第七、第九场效应管栅极连接后再接Read_en信号,第五场效应管漏极与第六场效应管源极连接,第六场效应管漏极与第十一场效应管栅极、第七、第八场效应管漏极连接成一节点,第七、第八效应管源极连接后接地,第六场效应管栅极与第八场效应管栅极、第十一场效应管源极、第二、第三、第九场效应管漏极连接后再接OTP单元数据的输入输出端,第九场效应管源极接地,第十一场效应管漏极与第十场效应管漏极、第三非门输入端连接,第十场效应管源极接VDD,第十场效应管栅极接地,第三非门输出端与第四非门输入端连接,第四非门输出端与数据输出端连接,第二场效应管源极与第一场效应管漏极连接,第二场效应管栅极与第一非门输出端连接,第一场效应管源极接VDD,第一场效应管栅极与第四场效应管栅极、第二非门输出端连接,第二非门输入端与数据输入端连接,第三场效应管源极与第四场效应管漏极连接,第三场效应管栅极与第一非门输入端连接后再接Prog_en信号,第四场效应管源极接地。
优选的,所述第一、二、五、六、十场效应管为PMOS管,第三、四、七、八、九、十一场效应管为NMOS管。
本发明的工作原理为:OTP写入数据时,数据从数据输入端输入,当Prog_en使能信号有效时,如果数据为1,第一、第二场效应管导通,OTP单元数据的输入输出端In_out输出高电平VDD,当数据为0时,第三、第四场效应管导通,OTP单元数据的输入输出端In_out输出低电平0;OTP读出数据时,当Read_en使能信号有效时,第七、第九场效应管截止,存储的值为0时,由于第十场效应管为P管做的上拉电阻,即通过第十一场效应管,可将0传输给数据输出端Data_out,存储的值为1时,读出时,OTP单元数据的输入输出端端口悬空态,如果OTP单元数据的输入输出端电压超过1.2V,第八场效应管导通,第十一场效应管截止,通过第十场效应管的上拉作用,便可将输出端Data_out电压拉高;第九场效应管主要清零OTP单元数据线上的值,在不读也不写入的状态,清零OTP单元数据的输入输出端,保证读取时,读取正确的存储值。
本发明的有益效果在于结构简洁,又能保证OTP工作寿命。
附图说明
图1为OTP存储数据的写入与读取电路的整体电路图;
图2和图3为OTP存储数据的写入电路电路图;
图4为OTP存储数据的读取电路电路图。
具体实施方案
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