[发明专利]一种反求测量方法

权利要求书

1.一种反求测量方法，其特征在于：该方法的具体步骤如下：

1）.将需要至少进行两次测量的测量对象固定在某一位置，用测量仪器对该测量对象的几何形貌进行点云数据提取，以获得测量对象的部分点云数据A1；

2）.选取测量仪器测量范围内一任意固定的物体为参照物，并至少选取参照物中的一点为参照点；

3）.用测量仪器对所选取参照物上的参照点进行测量，以得到参照点在该坐标系下的坐标值B1；

4）.移动测量仪器，并分别对测量对象和所选取参照物上的参照点进行测量，以获得在测量仪器移动后坐标系下测量对象的部分点云数据A2和参照物上参照点坐标B2；

5）.计算移动测量仪器前后的所选取参照物上的各个参照点的坐标差值及其平均值，以获得测量仪器移动前后坐标系偏差值； 

6）.将该坐标系偏差值补偿到移动测量仪器后对测量对象进行测量的点标值中，以保证移动前后测量的点云坐标值处在同一坐标系下。

7）.重复上述步骤4）、5）和6），直至获得该测量对象几何形状的所有点云数据。

2.根据权利要求1所述的反求测量方法，其特征在于：所述的步骤2）中所选取的参照物在测量仪器使用范围内的同时，要靠近测量仪器。

3.根据权利要求1或2所述的反求测量方法，其特征在于：所述的步骤2）中所选取的参照点如果为三个以上，则所选取参照物上的参照点中的任何三个参照点都不能在一个平面上。